詳細(xì)介紹
RESOChron雙年代測試系統(tǒng)可以快速且低成本地獲得雙測年結(jié)果,通過光學(xué)干涉測量、X射線顯微層析或掃描電子顯微鏡測量剝蝕坑體積,該儀器適用于基礎(chǔ)地球科學(xué)研究中的應(yīng)用需求,如構(gòu)造地質(zhì)學(xué)和地形演化研究,以及石油盆地分析和礦物勘探中的工業(yè)應(yīng)用,U-Th-Pb-He雙測年和三重測年傳統(tǒng)分析方法目前涉及單晶(例如鋯石,磷灰石,金紅石,獨(dú)居石)的多個手動處理階段,開始于U-Th-Pb同位素的SHRIMP或LA-ICP-MS單點(diǎn)分析,然后利用Alphachron™技術(shù)進(jìn)行全顆粒樣品的同位素分析。
基礎(chǔ)應(yīng)用:
1、潛在核倉庫的熱流體流動史;
2、相對斷層位移(勘探斷層成因的礦床);
3、鉆石探礦 — 構(gòu)造和地形演化歷史;
4、成礦區(qū)的造山抬升/剝蝕速率(地形演化);
5、潛在地?zé)醿拥那熬邦A(yù)測;
6、沉積盆地勘探 — 烴源巖的熱演化;
7、富鐵河流沉積礦床成礦期的古氣候條件;
8、石油和天然氣勘探;
9、熱液礦床熱歷史反演所需的參數(shù)。
技術(shù)規(guī)格:
激光功率,脈沖頻率和脈沖長度的組合選項:200mJ/100Hz/20ns,200mJ/20Hz/20ns或8mJ/300Hz/8ns
1、樣品數(shù)量:通常為25個樣品/樣品托盤;
2、激光波長:193nm 準(zhǔn)分子激光器;
3、氦測量重現(xiàn)性<0.35% (1σ);
4、背景4He水平<0.02 ncc。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
1、在分析過程中避免礦物或氣體包裹體;
2、相對于傳統(tǒng)方法,提高了精確度和準(zhǔn)確度;
3、提供單顆粒的地質(zhì)年代學(xué)年齡、熱年代學(xué)年齡和微量元素分析大量礦物顆粒的快速測年;
4、不需要alpha校正(能夠分析測量小的礦物顆粒);
5、不需要進(jìn)行危險和耗時的礦物溶解(HF);
6、可實(shí)現(xiàn)礦物剖面的氦含量分析。
RESOChron雙年代測試系統(tǒng)激光剝蝕(U-Th)/He熱年代學(xué)可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積,具有已知的表面積,從而克服了傳統(tǒng)的單顆粒晶體測量方法的兩個不確定性,能夠?qū)Χ鄠€礦物顆粒進(jìn)行快速的、自動化的U-Th-Pb-He分析,允許在工業(yè)和學(xué)術(shù)研究中更快、更便宜和常規(guī)地應(yīng)用雙測年,該系統(tǒng)一種*的儀器,能夠進(jìn)行礦物的U-Th-Pb-He三重測年和微量元素表征,通過ICP-MS 測量Pb,U和Th以得到U-Pb年齡。