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M1—Mistrial X射線熒光鍍層測(cè)厚儀是Bruker布魯克推出的一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。
詳細(xì)介紹
M1—Mistrial X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
Mistrial系列是Bruker布魯克推出的一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。
Mistrial可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測(cè)量。
M1—Mistrial X射線熒光鍍層測(cè)厚儀主要特點(diǎn)包括：
§ 成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
§ 可完成至多12層鍍層（另加底材）和25個(gè)元素的鍍層厚度測(cè)試，
§ 的多元素辨識(shí)，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號(hào)）到鈾（92號(hào)）各元素
M1—Mistrial X射線熒光鍍層測(cè)厚儀使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù), Mistrial可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求：
§ 符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
§ 符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：X射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
§ 至多同時(shí)分析25種元素
儀器技術(shù)規(guī)格：
| 參數(shù) | M1 MISTRAL |
| 元素測(cè)量范圍 | P(15)-U(92) |
| 樣品室大小 | 420 x 400 x 220 mm |
| 外部尺寸 | 450 x 550 x 420 mm |
| Z軸行程（樣品大高度） | 180 mm |
| 測(cè)量 | 空氣 |
| 樣品臺(tái) | 自動(dòng)Z軸、固定或自動(dòng)XY軸 |
| 平臺(tái)移動(dòng)分辨率 | < 30 μm |
| 自動(dòng)對(duì)焦，CCD相機(jī) | 標(biāo)準(zhǔn)，CCD相機(jī) |
| 激發(fā)系統(tǒng) | 50 kV 或40 kV W (Rh, Mo, Cr) |
| 光斑大小 | 0.1--1.5 mm，采用準(zhǔn)直器 |
| 探測(cè)器 | PC或SDD |
| 大計(jì)數(shù)率 | PC: 20,000 cps, SDD: 40,000 cps |
| Mn Ka時(shí)的能量分辨率 | PC: 約 900 eV, SDD: 150 eV |
| 可測(cè)層數(shù) | 多12（每層25種元素） |