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擺錘沖擊缺口投影儀 利用光學(xué)圖像技術(shù)將被測(cè)沖擊試樣缺口V型U型缺口通過(guò)千萬(wàn)像素的相機(jī)及鏡頭，將圖像采集到顯示器上，再通過(guò)我公司專用軟件的離析像素技術(shù)，精確測(cè)量擺錘沖擊V、U型缺口尺寸。
詳細(xì)介紹
擺錘沖擊缺口投影儀
利用光學(xué)圖像技術(shù)將被測(cè)沖擊試樣缺口V型U型缺口通過(guò)千萬(wàn)像素的相機(jī)及鏡頭，將圖像采集到顯示器上，再通過(guò)我公司軟件的離析像素技術(shù)，精確測(cè)量擺錘沖擊V、U型缺口角度、深度、底部半徑，還可自動(dòng)判定缺口是否合格。
擺錘沖擊缺口投影儀
對(duì)于金屬夏比沖擊V、U型缺口試樣來(lái)說(shuō)，GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》、ISO 148-1 2009《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī) 第1部分：試驗(yàn)方法》、GB/T 8363-2007(鐵素體鋼落錘撕裂試驗(yàn)方法)中要求，V型缺口深度2mm、3mm、5mm加工偏差范圍是±0.075(美標(biāo)±0.025)，缺口角度為45°加工偏差為±2°（美標(biāo)±1°），缺口底部半徑0.25mm加工偏差為0.025mm這樣的偏差范圍用肉眼去判斷是很難做到了，肉眼判斷0.1mm的誤差都非常吃力，更不用說(shuō)0.025等誤差了。美標(biāo)更嚴(yán)格。
擺錘沖擊缺口投影儀
用光學(xué)拍攝的方法，將沖擊試驗(yàn)V型U型缺口全貌采集到顯示器上，本測(cè)量?jī)x采用的千萬(wàn)像素相機(jī)及鏡頭以及機(jī)器視覺(jué)的平行光源，對(duì)試樣垂直照射，不會(huì)對(duì)試樣造成任何陰影，使缺輪廓清晰的顯示出來(lái)，通過(guò)離析像素技術(shù)，準(zhǔn)確自動(dòng)判定缺口邊緣，對(duì)缺口精確測(cè)量。
擺錘沖擊缺口投影儀 (TOP-IG)，
是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需求盒按照GB/T229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》、ISO 148-1 2009《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī) 第1部分：試驗(yàn)方法》、ASTM E23，GB/T 8363-2007(鐵素體鋼落錘撕裂試驗(yàn)方法，新研發(fā)的V型U型缺口加工檢驗(yàn)的設(shè)備“沖擊缺口投影儀”測(cè)量缺口只需2部就可以完成，*步：將試樣放到試樣臺(tái)上（測(cè)量視場(chǎng)范圍內(nèi)），第二部：點(diǎn)擊測(cè)量按鈕，測(cè)量結(jié)果瞬間得出。每秒鐘可測(cè)量3-5個(gè)試樣，*杜絕了人為因素影響測(cè)量結(jié)果。
擺錘沖擊缺口投影儀 測(cè)量精度：0.001mm