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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
|---|---|---|---|
| 范圍 | 1nA-100nA |
用途：
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。
功率：20W 電源：220V/50Hz **用燈源照射
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
平面光帶檢測儀 型號：JC-008
平面光帶檢測儀
用途：
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。
功率：20W 電源：220V/50Hz **用燈源照射
規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
產(chǎn)品特點(diǎn)
*是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來
測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于
計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
產(chǎn)品特點(diǎn)
*是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來
測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于
計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
*是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來
測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于
計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
