詳細(xì)介紹
德國(guó)Diatest公司于1948年由Hermann Költgen先生創(chuàng)辦,總部坐落在達(dá)姆施塔特,Diatest用戶更是遍布世界各地。DIATEST專業(yè)生產(chǎn)高精度孔徑量?jī)x,其精度可達(dá)0.001mm。Diatest的產(chǎn)品包括:測(cè)量?jī)x、檢具、百分表、千分表等,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于航天航空、汽車、液壓以及機(jī)械制造等行業(yè)。
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(BMD)
塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(BMD)是可以自動(dòng)定中心的高精度的孔徑內(nèi)徑測(cè)量?jī)x器。具有高精密靜態(tài)孔徑測(cè)量和動(dòng)態(tài)孔徑測(cè)量功能。既可用于手動(dòng)檢測(cè)尺寸偏差和形狀缺陷錯(cuò)誤的孔徑檢測(cè)儀器,也可以安裝在測(cè)量設(shè)備和自動(dòng)化系統(tǒng)上。測(cè)量范圍從Ø 2.98到270mm。
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)):BMD-S4-CR-7.04、BMD-S6-CR-10.0、
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)):BMD-S10-CR-39.993、BMD-S10-CR-124.96
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(通孔):BMD-D4-CR-4.98、BMD-D6-CR-10.0、BMD-D10-CR-41.97
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(通孔):BMD-D10-CR-59.977、BMD-D10-CR-100.00
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(盲孔):BMD-FB6-CR-8.984、BMD-FB10-CR-41.973、
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(盲孔):BMD-FB10-CR-59.977、BMD-FB10-CR-100.00
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(自動(dòng)測(cè)量):BMD-D10-CR-30.0-RK
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(自動(dòng)測(cè)量):BMD-D10-CR-30.0-PK-2Z-Φ2Z=30-0.4mmm
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(自動(dòng)測(cè)量):BMD-D10-OCR-30.0-RK-ZHML
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(特殊形):BMD-S10-CR-28.0-S-FB-L1=3.0、BMD-S10-CR-30.0-OR-FASE0.5x45°
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(特殊形):BMD-S10-CR-30.0-UM、BMD-S10-CR-10.0-2R
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(特殊形):BMD-S10-CR-35.0-3P、BMD-D10-CR-28.0-SO-TA-L3=11
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(測(cè)平行槽):BND-PA-4-S-MCR-4.35、BND-PA-4-S-MCR-6.3
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(多截面測(cè)頭):BMD-1ME、BMD-2ME-13-10、BMD-2ME-13-12
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(多截面測(cè)頭):BMD-2ME-15-9、BMD-2ME-15-18
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(多截面測(cè)頭):BMD-2ME-20-1、BMD-2ME-20-2、BMD-3ME-13
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(多截面測(cè)頭): BMD-3ME-20、BMD-3ME-0-24-1、BMD-4ME-24-26-4
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(多截面測(cè)頭):BMD-4ME-20-1、BMD-4ME-24-26-2、BMD-4ME-24-26-3
Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)x(多截面測(cè)頭):BMD-4ME-24-26-5、BMD-4ME-24-26-6、BMD-8ME-20-38
DIATEST兩瓣式小孔徑測(cè)量?jī)x
多功能孔徑測(cè)量?jī)x,可以測(cè)量孔徑范圍從Ø 0.47到41.3mm,測(cè)量孔徑的同時(shí)可檢測(cè)孔的圓度和橢圓度,尤其適用于小孔徑的測(cè)量,以及實(shí)驗(yàn)室中高精度要求的孔徑測(cè)量,即可用于孔徑手動(dòng)測(cè)量又可用于孔徑自動(dòng)測(cè)量。
DIATEST兩瓣式小孔徑測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)頭):T-HM-011、T-HM-022、T-HM-028、T-HM-036
DIATEST兩瓣式小孔徑測(cè)量?jī)x(盲孔測(cè)頭):T-FB-011、T-FB-015、T-FB-026、T-FB-035
DIATEST兩瓣式小孔徑測(cè)量?jī)x(T系列測(cè)頭):T-T-HM-2.75、T-T-HM-4.00、T-T-HM-6.0、T-T-HM-9.5
DIATEST兩瓣式小孔徑測(cè)量?jī)x(T系列測(cè)頭):T-T-2.25、T-T-3.25、T-T-9.0、T-T-5.5
DIATEST兩瓣式小孔徑測(cè)量?jī)x(3點(diǎn)式測(cè)頭):T-3P-5.0、T-3P-7.0、T-3P-10.0、T-3P-12.5、T-3P-21.5
DIATEST兩瓣式小孔徑測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)式測(cè)頭):T-PA-5.0、T-PA-8.0、T-PA-21、T-PA-25
DIATEST內(nèi)徑表式測(cè)量?jī)x
操作簡(jiǎn)單,適用于大部分孔徑測(cè)量及大尺寸測(cè)量,校準(zhǔn)簡(jiǎn)單,可用千分尺或環(huán)規(guī)校準(zhǔn),通過中間橋自動(dòng)定中心,除了測(cè)量孔徑外,還可檢測(cè)圓度、圓柱度等形狀誤差,也可用于測(cè)量平行距離內(nèi)徑測(cè)量。
DIATEST測(cè)量?jī)xMK5、MK6、MK7、MK6FB、MK8FB、MK8
DIATEST錐孔及倒角測(cè)量?jī)x
內(nèi)部錐形量規(guī)測(cè)量一個(gè)圓錐形孔的最大直徑或錐形鍵槽。一個(gè)IKT即可取代以前更慢和更昂貴的測(cè)量手段。
DIATEST IKT內(nèi)錐孔端面直徑測(cè)量系統(tǒng)IKT-90-1、IKT-90-5、IKT-90-7、IKT-127-2、IKT-127-6、IKT-60-4
DIATEST IKT內(nèi)錐孔端面直徑測(cè)量系統(tǒng)IKT-60-11、IKT-60-12、IKT-90-Z-3、IKT-90-Z-1
DIATEST AKT外錐面端面直徑測(cè)量系統(tǒng)AKT-90-1、AKT-90-3、AKT-127-4、AKT-127-6、AKT-60-1
DIATEST AKT外錐面端面直徑測(cè)量系統(tǒng)AKT-60-8、AKT-60-12、AKT-90-Z-1、AKT-90-Z-4
DIATEST螺紋深度測(cè)量規(guī)
DIATEST TD-量規(guī)可以測(cè)量螺紋的深度和通止。
系列2:M=3.5-6mm
系列3:M=7-10mm
系列4:M=11-14mm
系列5:M=16-18mm
DIATEST內(nèi)外齒輪測(cè)量?jī)x
我司生產(chǎn)的內(nèi)齒輪測(cè)量?jī)x采用了球形測(cè)頭,替代了傳統(tǒng)的量棒測(cè)量方式,從而提高了測(cè)量的精度,便捷性和穩(wěn)定性,同時(shí)還能測(cè)出內(nèi)孔的形狀誤差,如錐度,橢圓度等,為了滿足齒輪不同模數(shù)的變化,該齒輪測(cè)量?jī)x的測(cè)球也是可以方便更換,從而大大的提高了測(cè)量?jī)x的適用性,該測(cè)量?jī)x適用于測(cè)量奇數(shù)齒輪和測(cè)量偶數(shù)齒輪。
DIATEST內(nèi)外齒輪測(cè)量?jī)xZM-2、ZM-3、ZM-6、ZM-7
DIATEST內(nèi)外齒輪測(cè)量?jī)xT-ZM-2、T-ZM-2-4.0、T-ZM-2-5.5、T-ZM-2-6.5、T-ZM-2-9.0、T-ZM-2-9.5
DIATEST內(nèi)外齒輪測(cè)量?jī)xT-ZM-3-10-(K)、T-ZM-3-12-(K)、T-ZM-3-14-(K)、T-ZM-3-11、T-ZM-3-16、T-ZM-3-19
DIATEST內(nèi)外徑測(cè)量系統(tǒng)
DIATEST內(nèi)外徑測(cè)量系統(tǒng),內(nèi)外齒測(cè)量系統(tǒng) DIA-COME
DIATEST內(nèi)外徑測(cè)量系統(tǒng)DIA-COME C2、DIA-COME C2 AL、DIA-COME C2 JS
DIATEST超高精度電子塞規(guī)
Diatron 1000電子塞規(guī)是新一代的超高精度DIATEST測(cè)量?jī)x器,集成內(nèi)徑/孔徑測(cè)量和外徑測(cè)量,是一款靈活、安全數(shù)據(jù)傳輸?shù)钠炫灝a(chǎn)品。高精度顯示(7位)
DIATEST電子塞規(guī)Diatron 1000
DIATEST外徑測(cè)量比較儀
DIATEST外徑測(cè)量?jī)x(AMG外徑卡規(guī))是一種通用的高精度測(cè)量裝置,適用于生產(chǎn)和檢測(cè)領(lǐng)域,通過使用導(dǎo)向柱工件可以自動(dòng)找正,測(cè)頭將行程直接傳遞到指示表上,這就保證了外徑的精密測(cè)量。
DIATEST AMG外徑卡規(guī)
DIATRON數(shù)據(jù)傳輸單元
DIATRON-系列(電箱、電子柱、電子塞規(guī))包括能夠測(cè)量數(shù)字化測(cè)量?jī)x器,傳輸,顯示和存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。根據(jù)不同的應(yīng)用,并在測(cè)量作業(yè)的DIATRON被單獨(dú)使用或組合使用。該儀器是非常堅(jiān)固,并提供靈活的操作能力。尤其是DIATRON1000 - 高精度和數(shù)據(jù)傳輸?shù)膬x器。
DIATRON1000超高精度電子塞規(guī)
DIATRON2200系列電子柱
DIATRON6000電箱是帶模擬和數(shù)字顯示的SPC功能的顯示單元。
DIAWIRELESS無線傳輸
測(cè)量數(shù)據(jù)無線傳輸-DIAWIRELESS
DIAWIRELESS - 通過無線或藍(lán)牙Bluetooth® 將測(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳輸?shù)絇C。
DIATRON校中心檢具
特別適用于銑床、磨床、和鉆床等機(jī)床上。
DIATRON曲軸測(cè)量?jī)x
該檢測(cè)儀用于檢測(cè)曲軸及其位置度誤差,在曲軸磨削加工、組裝和修理發(fā)動(dòng)機(jī)工作中,特別在對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)及壓縮機(jī)的檢測(cè)中得到廣泛的應(yīng)用。
DIATRON曲軸測(cè)量?jī)x KP150、KP300、KP500
DIATRON測(cè)量臺(tái)架
適用于DIATEST孔徑測(cè)量?jī)x(如兩瓣式)小零件(小孔徑)系列測(cè)量應(yīng)用,兩瓣式測(cè)頭和測(cè)量臺(tái)架配合使用,可快速、準(zhǔn)確地測(cè)量孔徑(可以測(cè)量孔徑、錐形孔、圓孔、錐形形狀以及橢圓度等等)。檢測(cè)孔的形狀公差時(shí),對(duì)于非熟練操作者而言,使用浮動(dòng)夾頭和V型塊等附件尤為重要因?yàn)檫@種配置可以準(zhǔn)確、快速的傳遞測(cè)針的位移。也可測(cè)量的任意截面深度的直徑,在線生產(chǎn)中使用臺(tái)架式兩瓣式測(cè)量系統(tǒng)來控制孔徑的優(yōu)勢(shì)更為突出。
DIATRON浮動(dòng)夾頭和轉(zhuǎn)接頭
浮動(dòng)夾頭:當(dāng)使用兩瓣式測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量小孔(≤25.0mm)時(shí),推薦使用測(cè)量臺(tái)架,測(cè)量過程為了讓測(cè)頭加入更好的自定心,可以在臺(tái)架上安裝一個(gè)浮動(dòng)夾頭,該附件可以在水平面上提供微小的浮動(dòng)量,這樣避免了測(cè)頭的磨損。浮動(dòng)范圍為:0-1.5mm也提供可調(diào)整測(cè)力的浮動(dòng)夾頭。
SH-T、SH-BMD-20、SH-BMD-30、SH-BMD-50
DIATRON校對(duì)環(huán)規(guī)
校對(duì)環(huán)規(guī):按照企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或DIN2250-C。
28.000
28.000+0.000
DIATRON百分表和千分表
指針千分表MU1m/MU01Z
指針百分表MU10m/MU1Z
比較儀 (F1000)
數(shù)顯千分表MDU125
模擬千分表(ANA)
MU-1-m
MU-01Z
MU-10-m*Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)xBMD-S4
*Diatest塞規(guī)式孔徑測(cè)量?jī)xBMD-S4
MU-1Z
MDU-125
ANA