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          目錄:束蘊儀器(上海)有限公司>>三維X射線顯微鏡(XRM)>>D8>> 高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

          高分辨薄膜X射線衍射儀檢測
          • 高分辨薄膜X射線衍射儀檢測
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 品牌 Bruker/布魯克
          • 型號
          • 廠商性質 代理商
          • 所在地 上海市
          屬性

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          更新時間:2024-09-12 08:46:15瀏覽次數(shù):2653評價

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          價格區(qū)間 面議 儀器種類 單晶衍射儀
          應用領域 生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),電子,制藥
          原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;
          科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測

          高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

           

          項目

          細則

          收費

          說明

          Rocking Curve

          單一圖譜,30min 以內(nèi);若超 過 30min,延長時間按240元 /30min計,不足30min 按 30min計; 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀,厚 度≤1mm,直徑≤2cm

          240元/樣

          1.長時間數(shù)據(jù)手機(大于5h)、復雜樣品等特殊測試,價格需面議;

          2.原位測試需提供測試方法

          2Theta/Omega Scan

          對稱掃描單一圖譜,30min 以 內(nèi);掃描時間大于 30min,延 長時間按240元/30min,不足 30min 按 30min 計

          240元/樣

          2Theta/Omega Scan

          不對稱掃描單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時間大于 30min, 延長時間按 240元/30min計,不足 30min 按 30min 計

          300元/樣

          Skew Scan

          不對稱掃描單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時間大于 30min, 延長時間按 240 元/30min計,不足 30min 按 30min 計

          300元/樣

          XRR

          單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描 時間大于 30min,延長時間按240 元 /30min計,不足30min 按 30min 計

          300元/樣

          GID

          單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描 時間大于 30min,延長時間按240 元 /30min計,不足30min 按 30min 計

          300元/樣

          Phi Scan

          Phi 掃描單一圖譜,30min 以 內(nèi);掃描時間大于30min,延長時間按 240元/30min計,不足 30min 按 30min 計

          300元/樣

          RSM

          單點倒易空間 mapping 單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時間 大于 30min,延長時間按240元/30min計,不足30min 按 30min 計

          400元/樣

          低溫測試

          包含 2 個溫度點,第二點后, 240 元/ 測試點;低溫測試液氮另加30元/時

          900元/樣

          高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

          儀器功能特點:

          1- 高效的6KW TXS-HE轉靶光源,強度是封閉靶的5倍;

          2- 入射光路三光路自動切換系統(tǒng):粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路;高分辨光路:高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨;

          3- 探測器的開口大,適合測試速度快原位;配置準直器后開展二維衍射實時分析,還原原位二維信息;配備的高低溫系統(tǒng)可實時檢測反應中結構的演變過程;

          4- 原位充放電、原位電化學附件更是快速準確地追溯揭示了phase transformation過程。

          應用范圍:

          原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;

          科研支撐

          變溫物相分析

          變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學分析

          分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。

          產(chǎn)業(yè)支撐

          藥物作用機理及動力學分析、藥物理化性質及穩(wěn)定性分析。

           

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