武漢赫茲電力回路電阻測(cè)試儀測(cè)試時(shí)接觸電阻偏大的原因
本文主要講解使用赫茲電力回路電阻測(cè)試儀測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)的接觸電阻偏大的原因
一、回路電阻測(cè)試儀的原因
1、回路電阻測(cè)試儀本身的精度原因,首先要保證所使用的回路電阻測(cè)試儀的精度是*正確的。
2、檢查回路電阻測(cè)試儀面板上的接線端子，是否存在接觸不牢固，氧化等現(xiàn)象。
3、確定回路電阻測(cè)試儀接線正確,檢查電壓輸入線是否接在電流輸出線的內(nèi)側(cè)。
4、赫茲電力回路電阻測(cè)試儀的電流夾保證與被試品可靠接觸,避免接觸電阻過(guò)大而影響測(cè)試結(jié)果。
5、保證充足的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)，按國(guó)標(biāo)所規(guī)定時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)試。
HZHL-100A回路電阻測(cè)試儀
二、高壓開(kāi)關(guān)自身接觸電阻過(guò)大
1、高壓開(kāi)關(guān)兩端是否接地,如兩端均接地,會(huì)構(gòu)成一個(gè)并聯(lián)回路,測(cè)試結(jié)果為斷路器的回路電阻與變電站的接地電阻的并聯(lián)值。正確的做法是高壓開(kāi)關(guān)至少一端不接地。
2、高壓開(kāi)關(guān)的動(dòng)靜觸頭表面氧化
3、高壓開(kāi)關(guān)的動(dòng)靜觸頭間殘存有機(jī)械雜質(zhì)或碳化物
4、高壓開(kāi)關(guān)的動(dòng)靜觸頭壓力下降(如機(jī)械卡澀、觸頭彈簧斷裂,退火等導(dǎo)致接觸壓力下降)
5、高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)靜觸頭的接觸面積減小(觸面調(diào)整不當(dāng)或運(yùn)行中變位,以及多次切斷負(fù)荷電流和短路電流均能引起有效接觸面積減小）
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