隨著測(cè)試儀器使用率的提高, 儀器不可避免地會(huì)出現(xiàn)故障, 這類儀器的檢修給我們維修人員帶來(lái)了新的挑戰(zhàn)。這就要求我們具有很寬的專業(yè)技術(shù)知識(shí)面和較強(qiáng)的邏輯思維能力, 首先要理解儀器的原理框圖, 分析信號(hào)流程, 通過(guò)對(duì)儀器的基本操作, 對(duì)儀器故障進(jìn)行初步定位。下面安泰測(cè)試維修工程師帶大家來(lái)一起了解一下矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的原理及故障檢修。

安泰測(cè)試維修工程師根據(jù)對(duì)多臺(tái)該類儀器的檢修, 總結(jié)以下該類儀器常見(jiàn)故障的分類及維修。 

(1) 由誤操作引起的軟故障 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀大多具有多菜單顯示功能, 有 時(shí)誤操作會(huì)引起儀器功能紊亂,只要正確使用菜單, 特別是正確使用維修菜單, 就可以排除儀器的軟故障。

(2) 開機(jī)自檢后出現(xiàn)錯(cuò)誤信息提示 儀器自檢主要是對(duì)幾個(gè)核心部件進(jìn)行檢查, 其 順序一般為 CPU-ROM-RAMI/ O 接口-各被控組 鍵, 通過(guò)檢查所出現(xiàn)的錯(cuò)誤信息可以大致了解故障 出現(xiàn)的部位。

(3) 開機(jī)自檢正常而儀器出現(xiàn)硬故障 這類故障出現(xiàn)部位不能一目了然, 往往需要通 過(guò)對(duì)儀器進(jìn)行功能檢查, 再根據(jù)原理框圖推斷故障部位。

 以上維修方法由安泰維修中心專業(yè)維修工程師提供。安泰維修中心擁有專業(yè)的維修工程師，專業(yè)維修美國(guó)Agilent、TEK、FLUKE、R&S、安立等公司已不提供維修以及在修但是過(guò)了質(zhì)保期的各種示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、邏輯分析儀、功率計(jì)、發(fā)射機(jī)、接收機(jī)、信號(hào)源、各種型號(hào)的探頭、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、校準(zhǔn)源等進(jìn)口儀器儀表。另外，中國(guó)臺(tái)灣產(chǎn)的固緯、吉時(shí)利也在維修范圍之內(nèi)。

并且安泰維修中心提供原廠級(jí)服務(wù)，目前安泰測(cè)試維修中心已經(jīng)獲得了泰克公司的西北維修認(rèn)證授權(quán)，可以為客戶提供包括TEKTRONIX、FLUKE、KEITHLEY等公司的原廠級(jí)維修服務(wù)，并且以原廠級(jí)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供各種品牌儀器的維修服務(wù)。

下面安泰測(cè)試維修工程師將通過(guò)日常維修幾個(gè)實(shí)例來(lái)簡(jiǎn)單分析一下矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀出現(xiàn)故障的檢查思路和排除方法，歡迎大家來(lái)繼續(xù)閱讀。 

 實(shí)例 1: 開機(jī)后儀器自檢通過(guò), 測(cè)量反射( 所用 通道A / R) 工作正常, 測(cè)量傳輸( 所用通道 B/ R) 工 作不正常, 信號(hào)低 30dBm 左右, 而且曲線不平, 根據(jù) 原理框圖分析, 由反射測(cè)量正?？芍?/span>, 儀器所有共用 的部件應(yīng)該是正常的, 則故障一定出在端口 2 的定 向耦合器、 B 通道接收、采樣器、第二混頻器、及 ADC 電路的多路開關(guān)上。故障牽扯的器件較多, 且 儀器的結(jié)構(gòu)比較緊湊, 逐一檢查的方法不大可行, 通 過(guò)研究發(fā)現(xiàn), 一中頻比較好測(cè): 設(shè)置儀器在連續(xù)波 工作狀態(tài), 頻率 1GHz, 功率電平 10dBm, 此時(shí)一 中頻應(yīng)該輸出頻率 10MHz, 峰-峰值為 0. 15V 的正 弦波, 而我們用示波器測(cè)量發(fā)現(xiàn)信號(hào)低了很多, 故可 判斷故障出在采樣器或前面的耦合器上, 進(jìn)一步測(cè)量后發(fā)現(xiàn), 定向耦合器輸出信號(hào)正常, 即可判斷采樣 器損壞, 需要更換。

實(shí)例 2: 開機(jī)后儀器工作正常, 但工作一小時(shí)或 更長(zhǎng)時(shí)間后出現(xiàn)錯(cuò)誤信息。用功率計(jì)在端口 1 測(cè)量, 輸出功率電平為最大, 且功率電平不可調(diào), 該故障可 能出現(xiàn)在自動(dòng)電平控制電路或功率模塊上。因電路 是閉環(huán)的, 故障定位較困難, 但根據(jù)故障出現(xiàn)的狀 態(tài), 可判斷某一元器件的性能不好或電路存在虛焊 點(diǎn), 而且是由溫度過(guò)高引起的, 在這里我們采用了局 部加熱法進(jìn)行故障快速定位, 即用一種溫度可控的 熱風(fēng)機(jī)分別對(duì)某一元器件進(jìn)行加熱, 然后快速冷卻, 來(lái)確定故障所在點(diǎn)。

實(shí)例 3: 開機(jī)后, 屏幕出現(xiàn)鎖相錯(cuò)誤。鎖相電路 涉及的電路很多, 由框圖可知, 它由信號(hào)源部分、信 號(hào)分離部分、 R 通道采樣部分及其相關(guān)電路組成。出 現(xiàn)這種錯(cuò)誤信息, 首先須做相位校準(zhǔn), 校準(zhǔn)通不過(guò), 則可判斷儀器出現(xiàn)硬件故障; 再檢查與鎖相環(huán)路有 關(guān)的電纜, 連接電纜接觸不良, 也有可能引起此類故 障。檢查參考信號(hào)、基波發(fā)生器和脈沖發(fā)生器, 如果 均有正常信號(hào)輸出, 就可排除其相關(guān)電路出現(xiàn)故障 的可能性。 將環(huán)路打開, 外加一模擬輸入信號(hào)至鑒相 器, 檢查其輸出, 同樣未發(fā)現(xiàn)問(wèn)題, 而鎖相環(huán)路中 R 通道采樣器斷開則出現(xiàn)鎖相錯(cuò)誤, 因此無(wú)法測(cè)量其 對(duì)故障的影響, 但因 A、 B、 R 三通道*一樣, 可互 換使用, 所以用替換法查出 R 通道采樣器損壞。

未來(lái)的矢網(wǎng)將會(huì)有更快的測(cè)量速度、 更強(qiáng)的軟件和測(cè)試功能及更復(fù)雜精密的電路結(jié)構(gòu), 只有掌握基本原理, 靈活地應(yīng)用各種微波儀器檢修方法, 才能進(jìn)行快速準(zhǔn)確的故障定位, 達(dá)到事半功倍的效果。

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