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          美國VUC eCCI 電子顱腦損傷儀

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          • 美國VUC eCCI 電子顱腦損傷儀

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          • 型號(hào) eCCI
          • 品牌 其他品牌
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 所在地 北京市

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          更新時(shí)間:2020-03-31 10:33:29瀏覽次數(shù):437

          聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

          產(chǎn)品簡介

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè)
          創(chuàng)傷性腦損傷是神經(jīng)外科chang見的疾病,是導(dǎo)致創(chuàng)傷患者傷殘及死亡的主要原因。研究腦損傷后的神經(jīng)生化、神經(jīng)病理生理等方面的變化,可為探索行之有效的腦保護(hù)治療提供幫助,將有助于提高顱腦損傷患者的生存率及生存質(zhì)量。故建立各種便于觀察和施加干預(yù)因素、控制性佳、可分級(jí)、可復(fù)制性好并符合人類腦創(chuàng)傷特點(diǎn)的創(chuàng)傷性腦損傷模型,是目前創(chuàng)傷性腦損傷的研究熱點(diǎn)。 美國VUC eCCI 電子顱腦損傷儀

          詳細(xì)介紹

          美國VUC eCCI 電子顱腦損傷儀

          創(chuàng)傷性腦損傷是神經(jīng)外科chang見的疾病,是導(dǎo)致創(chuàng)傷患者傷殘及死亡的主要原因。研究腦損傷后的神經(jīng)生化、神經(jīng)病理生理等方面的變化,可為探索行之有效的腦保護(hù)治療提供幫助,將有助于提高顱腦損傷患者的生存率及生存質(zhì)量。故建立各種便于觀察和施加干預(yù)因素、控制性佳、可分級(jí)、可復(fù)制性好并符合人類腦創(chuàng)傷特點(diǎn)的創(chuàng)傷性腦損傷模型,是目前創(chuàng)傷性腦損傷的研究熱點(diǎn)。 
          VCU動(dòng)物顱腦損傷儀可以分為:

          • 液壓顱腦損傷儀(FPI),

          • 電子顱腦損傷儀(eCCI)

          • 細(xì)胞顱腦損傷儀(CIC)

          這三種產(chǎn)品己廣泛應(yīng)用于世界范圍內(nèi)的顱腦創(chuàng)傷研究中心,是目前唯yi的顱腦創(chuàng)傷模型制作的金標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),損傷儀還可應(yīng)用到眼科損傷模型,細(xì)胞損傷儀可以應(yīng)用到其它種類細(xì)胞損傷模型的制作。 
          弗吉尼亞州立大學(xué)放射學(xué)系所有定制的設(shè)備都是由CDF(定制設(shè)計(jì)與制造)制作的。2000年的時(shí)候,CDF公司(定制設(shè)計(jì)與制造公司)建立了一個(gè)成本核算中心,以便拓展與其他需要定制設(shè)備的客戶的商業(yè)聯(lián)系。目前CDF公司提供了在機(jī)械和電子工程設(shè)備定制的全面服務(wù)。除了網(wǎng)頁上面展示的產(chǎn)品外,我們還提供給用戶定制服務(wù),希望您有想法告訴我們,我們幫您實(shí)現(xiàn)。 

          美國VUC CIC II細(xì)胞損傷控制儀
          細(xì)胞顱腦損傷儀(CIC),Cell Injury Controller II 
          細(xì)胞損傷控制儀(Cell Injury Controller II)采取電子式控制,采取電子式控制,適合腦源性細(xì)胞培養(yǎng)樣品,或其它離體培養(yǎng)細(xì)胞的牽張性損傷模型制作。損傷后可進(jìn)行神經(jīng)生化、形態(tài)學(xué)、生理學(xué),藥物干預(yù)等方面的研究。 
          細(xì)胞損傷控制儀使用Flexcell公司的Tissue Train ? 三維細(xì)胞組織應(yīng)力加載系統(tǒng)。 
          細(xì)胞損傷控制儀平均把壓縮氣體送到每個(gè)培養(yǎng)室,以造成培養(yǎng)組織牽張性的損傷,損傷的嚴(yán)重程度是依靠控制進(jìn)出密閉培養(yǎng)室的氣體量。養(yǎng)室的峰值壓力同時(shí)被記錄下來,這個(gè)數(shù)值可以用來精確地表明引起牽張性細(xì)胞損傷的氣壓值。細(xì)胞損傷控制儀(CIC II)可以搭配Flex I29.45cm2 柔性基底培養(yǎng) I (針對(duì)VCU早期的細(xì)胞損傷控制儀)或BioFlex? 57.75cm2 柔性基底培養(yǎng)板。因?yàn)楦鶕?jù)所采用的細(xì)胞種類、損傷的程度、培養(yǎng)的狀況,受損后的細(xì)胞或許會(huì)因?yàn)樯鲜鲆蛩厮劳龌蛐迯?fù),所以VCU的細(xì)胞損傷控制儀(CIC II)很適合應(yīng)用在下列損傷反應(yīng)研究:細(xì)胞受損、修護(hù),死亡,藥物介入。

          損傷水平

          大概膜伸展

          Model 94A- Felx I 
          膜變形

          CIC II-Flex I 
          傷等效峰值壓力范圍

          CIC II –BioFlex
          等效損傷峰值壓力范圍

          120%

          5.5毫米

          8.2 - 8.8 PSI

          1.8 - 2.0 PSI

          135%

          6.5毫米

          10.0 - 10.5 PSI

          2.5 - 3.0 PSI

          嚴(yán)重

          155%

          7.5毫米

          11.0 -11.5 PSI

          3.5 -4.5 PSI

          *Note that the CIC Model 94A Flex I deformation data is the measured distension of a dry reference well. The corresponding peak pressure values are based on the anticipated injury deformation with the addition of 1 ml of fluid media. The presence of 1 ml of fluid increases the deformation approximately 5 percent over the reference well measurement.

          液壓顱腦損傷儀(FPI)
          Fluid Percussion Injury 
          液壓沖擊損傷儀(Fluid Percussion Injury)是由VCU大學(xué)所制作設(shè)計(jì)的,針對(duì)神經(jīng)創(chuàng)傷機(jī)制研究。成為研究神經(jīng)創(chuàng)傷廣泛使用的儀器,基本的組件是采取xian進(jìn)的Power coating process技術(shù),鋁制部分的組件都已經(jīng)電鍍以避免氧化且可以長久使用。液壓沖擊腦損傷儀可以重復(fù)一致的產(chǎn)生液壓沖擊損傷(FPI)。 
          系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn):

          • 可方便的排除氣飽。

          • 角度刻度可方便觀察撞擊角度。

          • 集成壓基準(zhǔn)力輸出,方便校準(zhǔn)??奢敵鼍_沖擊壓力。

          • 配備高精度的壓力傳感

          美國VUC eCCI 電子顱腦損傷儀
          電子顱腦損傷儀(eCCI),electric Cortical Contusion Impactor 
          由VCU大學(xué)所制作設(shè)計(jì)的電子大腦皮質(zhì)挫傷撞擊儀(electric Cortical Contusion Impactor),主要針對(duì)腦皮質(zhì)挫傷模型。是神經(jīng)損傷研究機(jī)構(gòu)shou歡迎的損傷模型制作工具。電子大腦皮質(zhì)挫傷撞擊儀(eCCI)的組件有: 堅(jiān)固的鋁架,動(dòng)物平臺(tái),撞擊控制器和撞擊頭。動(dòng)物平臺(tái)可以和各種立體定位儀搭配使用。eCCI電子大腦皮質(zhì)挫傷撞擊儀使用高級(jí)的線性馬達(dá)驅(qū)動(dòng)撞擊頭,并由控制器來控制撞擊參數(shù),實(shí)現(xiàn)不同程度的損傷。撞擊頭的組件部分有含感應(yīng)器,可以確定速率、撞擊深度及撞擊停留。這些撞擊參數(shù)*可以重復(fù)實(shí)現(xiàn)。
          與傳統(tǒng)Feeney’s自由落體硬膜外撞擊方法相比有以下優(yōu)點(diǎn): 
          可精確連續(xù)的控制撞擊速度,并獲得實(shí)際撞擊深度和停留時(shí)間等參數(shù)。而非重量差異很大的撞擊。由于可精確控制撞擊速度和獲得實(shí)際撞擊結(jié)果參數(shù),eCCI電子大腦皮質(zhì)挫傷撞擊儀可以精確重復(fù)制作挫傷損傷模型。減少動(dòng)物死亡。使實(shí)驗(yàn)過程更加直觀,可控。

          此款產(chǎn)品不用于醫(yī)療,不用于臨床使用,此產(chǎn)品僅用于科研使用。

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