詳細介紹
德國EPK MiniTest 7400測厚儀
涂層測厚儀:
采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
特征:
- 統(tǒng)計過程控制
- 加硬探頭頂部
- 高度鋼球確保測量的重現(xiàn)性
- 每秒讀數(shù)多達20個
- 內(nèi)置數(shù)字信號處理傳感器
- 多點校準可達5點
- 大面積易讀數(shù)顯示屏
- 顯示zui小zui大值
- 菜單控制界面
- 上下關(guān)聯(lián)的在線幫助
探頭技術(shù)參數(shù):
1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準
2.零點校準,并且校準值和預期的涂層厚度接近
3.使用精密支架,不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”,測量速度主要取決于操作
5.根據(jù) DIN 55350第13部分
6.多點校準值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).
7.包括涂層
篤摯儀器主要經(jīng)營的儀器有EPK壁厚測厚儀MiniTest FH7200 FH4探頭 測頭FH 4.1 EPK壁厚測厚儀MiniTest FH7400 EPK涂層測厚儀探頭Printer MiniPrint7000 A/B掃描超聲波測厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC 超聲波測厚儀TT130 超聲波測厚儀TT120 高精密超聲波測厚儀PX-7DL 高精密超聲波測厚儀PX-7 A/B掃描高精密超聲波測厚儀PVX 超聲波測厚儀TT100 高精密超聲波測厚儀CL400探頭 帶A/B掃描功能的超聲波測厚儀MVX 高精密超聲波測厚儀CL5 超聲波測厚儀TT110 超聲波測厚儀MMX-6 A/B掃描超聲波測厚儀DMS Go 水下超聲波測厚儀UMX-2 超聲波測厚儀MMX-6DL 一體化超聲波測厚儀PocketMIKE 超聲波測厚儀PosiTect0rUTG Std 超聲波測厚儀MX-3 超聲波測厚儀MX-5 超聲波測厚儀PosiTect0rUTGME 超聲波測厚儀MX-5DL 超聲波測厚儀DM5E Basic 超聲波測厚儀DM5E 超聲波測厚儀DM5EDL 濕膜測厚儀WetTest 德國EPK GalvanoTest小樣品夾具 德國EPK庫侖鍍層測厚儀GalvanoTest 2000 超聲波涂層測厚儀PosiTector200 庫侖鍍層測厚儀GalvanoTest 3000 涂層測厚儀