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EPOCH 1000i探傷儀相控陣成像優(yōu)勢
閱讀:1704 發(fā)布時間:2017-5-25相控陣的商業(yè)應(yīng)用已經(jīng)有近二十年了,在超聲波無損檢測領(lǐng)域也取得了越來越大的發(fā)展。以前局限于精英組織訓(xùn)練有素的技術(shù)人員和研究機(jī)構(gòu)的相控陣儀器的使用已經(jīng)發(fā)展成為更主流的檢查模式。這種擴(kuò)張可歸因于許多因素,包括降低儀器/系統(tǒng)成本,增加儀器可攜帶性,增強(qiáng)用戶界面,新的培訓(xùn)和教育機(jī)會,以及不斷增長的管理檢查機(jī)構(gòu)和法規(guī)的技術(shù)接受程度。隨著相控陣檢查技術(shù)的發(fā)展,超聲波NDT社區(qū)已經(jīng)開發(fā)出了一種儀器儀表的要求,該技術(shù)允許有能力的傳統(tǒng)超聲波技術(shù)人員在保持傳統(tǒng)技術(shù)基礎(chǔ)的同時,獲得基本相控陣成像的優(yōu)勢。 2008年12月推出的奧林巴斯NDT EPOCH 1000i(圖1)將傳統(tǒng)的單通道探傷*性能與這些相控陣列成像優(yōu)勢結(jié)合在了一個直觀和強(qiáng)大的封裝中,為這一發(fā)展中市場的需求提供了解決方案。本文將強(qiáng)調(diào)這種儀器的要求,并提供在當(dāng)前NDT檢測環(huán)境中這種儀器級別的優(yōu)點的關(guān)鍵示例。
傳統(tǒng)的探傷儀市場的核心要求在幾十年來基本保持不變。雖然數(shù)字儀器提供了更快的校準(zhǔn)方法,的測量能力和更有效的實現(xiàn)尺寸調(diào)整技術(shù),如距離幅度校正(DAC),時間校正增益(TCG),距離增益調(diào)整(DGS)等,缺陷的表征仍然存在主要依賴于A掃描信號的解釋。事實上,在過去十年中,便攜式探傷儀zui顯著的進(jìn)步直接涉及提高信號表現(xiàn)的保真度,以提高對A掃描解讀的更高的信心。這些增強(qiáng)功能通過增加脈沖發(fā)生器和接收器性能來增強(qiáng),從而允許在更廣泛的應(yīng)用范圍內(nèi)的信號再現(xiàn)一致性。