測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同,可大致分為:
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分:
點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同,又可分為以下幾種:
激光測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀
X射線測(cè)厚儀
白光干涉測(cè)厚儀
電解式測(cè)厚儀
管厚規(guī)
優(yōu)點(diǎn):
→ 只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn)
→ 測(cè)量精度高
→ 一體分體通用
→ 可配多種探頭
→ 中英文菜單操作
→ 智能化
→ 帶存儲(chǔ),并可連計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析
→ 可連接薄鍍層探頭,對(duì)極薄的鍍層厚度測(cè)量,誤差小于±3um
可選探頭:
→ Fe鐵基探頭: 0-2000μm 0-5000μm
→ NFe非鐵基探頭: 0-2000μm 0-5000μm
→ NFe/Fe兩用探頭:0-2000μm 0-5000μm
→ 無(wú)線傳輸探頭
主機(jī):
該儀器主機(jī)通用,探頭分為磁性探頭、渦流探頭及雙用探頭,探頭的測(cè)量范圍有0-2mm和0-5mm兩種,用戶在購(gòu)買該產(chǎn)品時(shí)要根據(jù)需求選購(gòu)合適的探頭,如有不明白的地方敬請(qǐng)。