GALVANOTEST2000庫倫Elektrophysik測(cè)厚儀

GalvanoTest 2000庫倫測(cè)厚儀是基本型號(hào)，可測(cè)量各種涂層/基底組合，無需任何附件。設(shè)計(jì)為易于使用，這種模式受推薦用于測(cè)量多層應(yīng)用。

●幾乎測(cè)量任何電鍍涂層/基底組合

●適用于單層和多層涂層

●使用庫侖法原理，符合DIN 50 955和ISO 2177的去鍍方法也適用于0.05微米的極薄涂層

庫侖或陽極去鍍技術(shù)用于測(cè)量幾乎所有基材如鋼，有色金屬或絕緣材料基材上的電鍍涂層的厚度。 典型應(yīng)用包括：鋼上鎳，鋼上鋅，銅錫，銀銅或環(huán)氧樹脂。

統(tǒng)計(jì)計(jì)算

顯示6種統(tǒng)計(jì)值：均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、大、小值、讀數(shù)個(gè)數(shù)

立即或稍后顯示統(tǒng)計(jì)值

顯示、打印年、月、日、時(shí)、分

用于外設(shè)的計(jì)算機(jī)接口：

MINIPRINT 微型打印機(jī)接口

RS-232，PC計(jì)算機(jī)接口

連接x-t計(jì)錄儀模擬電壓輸出接口

篤摯代理出售的德國EPK GALVANOTEST2000庫倫測(cè)厚儀主要是針對(duì)一些塑料、薄膜等行業(yè)的一些電鍍件，可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層，比如說，塑料上鍍鋅、鍍銀、鍍銅等，GALVANOTEST 2000可以測(cè)試單層或多層鍍層的厚度。利用庫侖電量分析原理，測(cè)量鍍層、多層鍍層，符合標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177，儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。

 GALVANOTEST2000庫倫Elektrophysik測(cè)厚儀

GalvanoTest 2000，應(yīng)用庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍?？梢杂糜跍y(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。
測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠，儀器使用簡(jiǎn)便。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需要專業(yè)知識(shí)。

技術(shù)數(shù)據(jù)：

測(cè)量范圍：大測(cè)量范圍：0.05-75μm

測(cè)量范圍：0.05～75μm
可以測(cè)量70種以上的鍍層/基體組合
可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層
可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、線狀零件
預(yù)置10種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻、Ni鑷、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金
用戶可另設(shè)8種金屬的測(cè)量參數(shù)
測(cè)量面積：0.25/4/8mm2
存儲(chǔ)：2000個(gè)讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值
統(tǒng)計(jì)功能：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、大、小、讀數(shù)個(gè)數(shù)
接口：RS232接口可連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)

篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量?jī)x等各類檢測(cè)設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。