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MiniTest 3100測厚儀基本規(guī)格Elektrophysik
MiniTest 3100測厚儀所有探頭都可以連接，包括F型、N型FN兩用型，RS 232接口用于便攜式數(shù)據(jù)打印機(jī)MiniPrint 4100或PC，可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。MiniTest 3100擁有10,000個讀數(shù)的總內(nèi)存容量和存儲讀數(shù)的可能性，可透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)。
基本規(guī)格：
電源：1 x 9 V堿性電池，
電池壽命：10,000次
交流適配器環(huán)境溫度：*探頭適用于高達(dá)350°C的高溫
測量溫度：0 ... 50°C;
探針：-10℃。 ..70°C，短暫可用120°C（測量范圍0 ... 2,000μm）
符合DIN 50981，50982，50984，
尺寸/重量：150 mm x 82 mm x 35 mm / 270 g
標(biāo)準(zhǔn)：ISO 2178,2360 / BS 5411 / ASTM B499，B244-CE
1）在實(shí)驗室條件下與所提供的標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)2）我們的標(biāo)準(zhǔn)和要測量的對象的不同銅成分需要準(zhǔn)備的參考標(biāo)準(zhǔn)（例如橫切）
技術(shù)特征：
- 所有探頭都可以連接，包括F型、N型FN兩用型。
- RS 232接口用于便攜式數(shù)據(jù)打印機(jī)MiniPrint 4100或PC
- 用一個或兩個箔校準(zhǔn)
- MiniTest 3100擁有10,000個讀數(shù)的總內(nèi)存容量和存儲讀數(shù)的可能性
- 10個應(yīng)用程序內(nèi)存，每個10個批次。 執(zhí)行校準(zhǔn)保留在應(yīng)用程序內(nèi)存中。
- 測量系列的統(tǒng)計評估允許用戶評估涂層的平均值，zui大值，zui小值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和在一個測量系列
ElektroPhysik提供一系列適用于標(biāo)準(zhǔn)和特殊應(yīng)用的探頭。對于鋼的測量，使用磁感應(yīng)原理，允許測量所有絕緣涂層， G，油漆，搪瓷等，以及鋼鐵和黑色金屬上的有色金屬。以磁感應(yīng)原理工作的探頭稱為F探頭。對于有色金屬上的絕緣涂層的測量，使用渦流原理。根據(jù)該原理工作的探針稱為N-探頭。
非破壞性測量覆蓋以下測量范圍：
0 - 50mm鋼無磁性涂料
0 - 100mm有色金屬絕緣涂層
10-200µM絕緣基材銅層
0 - 1600µM鋼和有色金屬粉末涂料
MiniTest 3100測厚儀參數(shù)信息：
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量： | |
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 10 |
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，并可設(shè)寬容度極限值) | 10 |
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) | 500 |
數(shù)據(jù)總量 | 10000 |
MINITEST統(tǒng)計計算功能 | |
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | √ |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | √ |
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ |
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | - |
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | √ |
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | √ |
其他功能： | |
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) | √ |
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) | √ |
利用計算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) | √ |
補(bǔ)償一個常數(shù)(Offset) | √ |
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 | √ |
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 | √ |
更換電池是存儲數(shù)值 | √ |
設(shè)置極限值 | √ |
公英制轉(zhuǎn)換 | √ |
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 | √ |
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | √ |
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 | √ |
組內(nèi)單值延遲顯示 | √ |
連續(xù)測量模式中顯示zui小值 | √ |
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