MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik批量出貨

配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設備，如外借電源、耳機、腳踏開關或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉換器。

性能特點：

所有金屬基材上的非破壞性測量

多種圖形顯示選項

菜單控制界面，更強的數(shù)據(jù)和配置管理

用于簡易配置評估和數(shù)據(jù)設置報告的PC軟件

測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭

SIDSP®技術提升度和重現(xiàn)性

MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik批量出貨

模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。

SIDSP®明顯優(yōu)勢

EPK此項探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。高精度，高重現(xiàn)性，對溫度變化不敏感，適應性強，這些都是SIDSP®的主要特點。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術結合自動化校準過程，而且每個探頭可獨立校準，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術賦予的優(yōu)勢。的精密生產(chǎn)過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

MiniTest 7400測厚儀內(nèi)存容量

應用程序內(nèi)存數(shù)量10

每個應用程序存儲器的批次數(shù)

具有單個值記憶的批次數(shù)量100

單個讀數(shù)的總內(nèi)存容量10,000

統(tǒng)計

從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。

從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

塊統(tǒng)計：x =，σ，kvar，n，max。，min。

塊統(tǒng)計：x =，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK

從同一應用程序（APPL）中的所有子組（BATCH）

分別將值和統(tǒng)計打印到APPL-BATCH組

顯示和打印輸出和測量時的日期和時間（年，月，日，小時，分鐘）

校準方法

通過涂層校準（CTC）

粗糙表面測量。幾乎可以消除粗糙度的影響

OFFSET函數(shù)添加或減少常量值

外部功能（觸發(fā)）將讀數(shù)傳送到存儲器

鍵鎖定以保護校準

電池更換期間保存讀數(shù)

限制設置

測量單位為微米或密耳

篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。