測(cè)厚儀Mintest 3100膜厚測(cè)試儀華東區(qū)總代理的特點(diǎn)：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；所有型號(hào)均可配所有探頭；可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
Mintest 3100膜厚測(cè)試儀華東區(qū)總代理
Mintest 3100膜厚測(cè)試儀華東區(qū)總代理
可選探頭
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
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FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù) 所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能 |
探頭 | 量程 | 低端分辨率 | 誤差 | zui小曲率半徑 | zui小測(cè)量區(qū)域直徑 | zui小基體厚度 | 探頭尺寸
(mm) | 磁
感
應(yīng)
法 | F05 | 0-500um | 0.1um | ±(1%±0.7um) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62 | F1.6 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62 | F1.6/90 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170 | F2/90 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170 | F3 | 0-3000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62 | F10 | 0-10mm | 5um | ±(1%±10um) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46 | F20 | 0-20mm | 10um | ±(1%±10um) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66 | F50 | 0-50mm | 10um | ±(3%±50um) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70 | 兩
用 | FN1.6 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50um | φ15x62 | FN1.6P | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50um | φ21x89 | FN2 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50um | φ15x62 | 電
渦
流
法 | N02 | 0-200um | 0.1um | ±(1%±0.5um) | 1/10mm | 2mm | 50um | φ16x70 | N.08Cr | 0-80um | 0.1um | ±(1%±1um) | 2.5mm | 2mm | 100um | φ15x62 | N1.6 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 2mm | 50um | φ15x62 | N1.6/90 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 平面/10mm | 5mm | 50um | φ13x13x170 | N2 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | 50um | φ15x62 | N2/90 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 平面/10mm | 5mm | 50um | φ13x13x170 | N10 | 0-10mm | 10um | ±(1%±25um) | 25/100mm | 50mm | 50um | φ60x50 | N20 | 0-20mm | 10um | ±(1%±50um) | 25/100mm | 70mm | 50um | φ65x75 | N100 | 0-100mm | 100um | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50um | φ126x155 | CN02 | 10-200um | 0.2um | ±(1%±1um) | 平面 | 7mm | 無(wú)限制 | φ17x80 |
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注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
|
| FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) |
| FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭，特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 |
| FN2
0～2000μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層 |
| F05
0～500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(O.1μm) |
| F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高(O.1μm) |
| F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層 |
| F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(O.1μm) |
| F2/90
0～2000μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 |
| F10
0～10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
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