PhysiTest測(cè)厚儀Elektrophysik授權(quán)經(jīng)銷(xiāo)商
篤摯儀器(上海)有限公司為多種精密檢測(cè)儀器設(shè)備提供專(zhuān)業(yè)的技術(shù)服務(wù)及售后服務(wù),以技術(shù)能力專(zhuān)業(yè)、產(chǎn)品資源全面、服務(wù)周到快捷、設(shè)備質(zhì)量可靠為宗旨,在機(jī)械加工、精良制造、新材料應(yīng)用、科學(xué)研究等前沿領(lǐng)域具有*優(yōu)勢(shì)。咨詢(xún):。進(jìn)一步了解產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)信息。
濕膜厚度在實(shí)際中具有參考性和指導(dǎo)意義。濕膜厚度與干膜厚度的關(guān)系如下:
濕膜厚度=所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比
濕膜厚度=(所需的干膜厚度/涂料固體成分的體積百分比)*(100%+添加的稀釋劑百分比)
注:涂料的固體成分百分比可根據(jù)所用涂料的參數(shù)確定。
PhysiTest測(cè)厚儀Elektrophysik授權(quán)經(jīng)銷(xiāo)商
濕膜厚度的測(cè)量:
一般濕膜厚度的測(cè)量使用濕膜輪規(guī)、濕膜齒規(guī)(梳齒儀)。
德國(guó)EPK濕膜輪測(cè)厚儀PhysiTest15201量程0-100μm
濕膜輪測(cè)厚儀用于對(duì)新涂的濕涂層進(jìn)行快速簡(jiǎn)易的厚度測(cè)量。測(cè)量范圍:0~100μm。
描述
濕膜測(cè)厚儀,測(cè)量0~100μm新涂的濕涂層。
應(yīng)用
用于對(duì)新涂的濕涂層進(jìn)行快速簡(jiǎn)易的厚度測(cè)量。
。PhysiTest測(cè)厚儀Elektrophysik代理現(xiàn)貨
特點(diǎn)
耐磨
無(wú)需電力
無(wú)需校準(zhǔn)
濕膜輪測(cè)厚儀Wet Film Thickness
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀可以用于測(cè)量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。
PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀由兩個(gè)外同心輪和一個(gè)內(nèi)偏心輪組成。
當(dāng)濕膜輪在涂層表面滾動(dòng)時(shí),內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時(shí)所對(duì)應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。
PhysiTest為不同要求提供三種基本規(guī)格產(chǎn)品。
產(chǎn)品信息
型號(hào) 名稱(chēng) 量程
PhysiTest15201 濕膜輪 0-100μm
PhysiTest15202 濕膜輪 0-200μm
PhysiTest15203 濕膜輪 200-700μm
尺寸:直徑50mm×寬27mm
重量:0.35Kg
德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5兩件套 德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50兩件套 德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板NiFe50/NI50四件套 德國(guó)EPKMikroTest校準(zhǔn)板G、F、S3、S5四件套 測(cè)頭FH 10 EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200 FH4探頭 測(cè)頭FH 4.1 EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400 EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC 超聲波測(cè)厚儀TT130 超聲波測(cè)厚儀TT120 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7 A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX 超聲波測(cè)厚儀TT100 高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭 帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX 高精密超聲波測(cè)厚儀CL5
EPK測(cè)厚儀:
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀 |
濕膜輪測(cè)厚儀,機(jī)械式涂層測(cè)厚儀 |
超聲涂層測(cè)厚儀 (別名:非金屬涂層測(cè)厚儀,非導(dǎo)電基材涂層測(cè)厚儀,塑料涂層測(cè)厚儀。。。) |
筆式涂層測(cè)厚儀 |
庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀 (別名:腐蝕法測(cè)厚儀,多層鍍層測(cè)厚系統(tǒng),金屬鍍層厚度測(cè)定儀,電解法測(cè)厚儀。。。) |
霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀 (別名:磁性法壁厚測(cè)量?jī)x,塑料瓶壁厚測(cè)量?jī)x。。。) |
超聲波測(cè)厚儀 (別名:壁厚測(cè)量?jī)x,板厚測(cè)量?jī)x,復(fù)合材料分層測(cè)厚儀。。。) |