一、ElektroPhysik*涂層測(cè)厚儀的介紹

Minitest700系列涂層測(cè)厚儀采用創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性 ，測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用 ，F(xiàn)N探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)，SIDSP技術(shù)-技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)。

二、ElektroPhysik*涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽：

-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加

-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）

-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤

-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤

-生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線(xiàn)

-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)

-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出

-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)

-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選

-帶IrDA接口，紅外線(xiàn)傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC

-可下載更新軟件

標(biāo)準(zhǔn)配置：                                             推薦配件：                                                                                 

--MINITEST 720(內(nèi)置探頭)                              --F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架

--或MINITEST 730（外置探頭）

--或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）

-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板

-操作使用說(shuō)明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)

-2節(jié)AA電池

技術(shù)參數(shù)

F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5

F2

F5，N2.5，F(xiàn)N5

F15

F

N

F

F

N

F

測(cè)量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛

厚涂層

測(cè)量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號(hào)處理

探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）

度

±（1μm 0.75%讀值）

±（1.5μm 0.75%讀值）

±（5μm 0.75%讀值）

重復(fù)性

±（0.5μm 0.5%讀值）

±（0.8μm 0.5%讀值）

±（2.5μm 0.5%讀值）

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

zui小曲率半徑（凸）

1.0mm

1.5mm

5mm

zui小曲率半徑（凹，外置探頭）

7.5mm

10mm

25mm

zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）

30mm

30mm

30mm

zui小測(cè)量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

zui小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測(cè)量速度

每秒20個(gè)讀數(shù)

單值模式下zui大測(cè)量速度

每分鐘70個(gè)讀數(shù)