QWED諧振器SPRD
產(chǎn)品型號：SPRD
關(guān)鍵字：10GHZ介電特性測量分離式介質(zhì)諧振器，含軟件，可配電纜。
關(guān)鍵字描述：每個諧振器被設(shè)計用于特定的額定頻率，并且實際測量以接近標稱頻率的頻率進行。
產(chǎn)品介紹： SPDR使用特定的諧振模式。該模式具有取決于諧振器尺寸的特定諧振頻率，并且在一定程度上也取決于測量樣品的電學性質(zhì)。因此，每個諧振器被設(shè)計用于特定的額定頻率，并且實際測量以接近標稱頻率的頻率進行。SPDR的基本線路的標稱頻率為：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz。在1.1 GHz和15 GHz之間的其他頻率的諧振器可以在特殊要求下制造。 測量空諧振器和諧振器的諧振頻率和Q因子。提供軟件用于介電常數(shù)和介電損耗角正切測定。可以使用Agilent Technologies配備85071E材料測量軟件（選件300）的PNA / ENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀之一，用戶只需將QWED的應用程序上傳到網(wǎng)絡(luò)分析儀中，并直接在其顯示屏上獲得結(jié)果。使用不同網(wǎng)絡(luò)分析儀的用戶需要在標準PC計算機或網(wǎng)絡(luò)分析儀（如果配備Windows操作系統(tǒng)）上安裝介質(zhì)特性計算軟件。 參數(shù)： 標稱頻率（GHz） 樣品尺寸min.（mm） 樣品厚度max.（mm） 1.1 120×120 6.0 1.9 70×70 4.0 3.2 50×50 3.0 5~6 30×30 2.0 9~10 22×22 1.0 13~15 15×15 0.6 QWED諧振器SPRD應用 SPDR用于測量包括LTCC襯底在內(nèi)的層狀電介質(zhì)材料的復介電常數(shù)，也用于沉積在低損耗介質(zhì)襯底上的薄鐵電薄膜。此外，SPDR可用于測量各種導電材料（如商用電阻層，薄導電聚合物膜或高電阻率半導體）的表面電阻和電導率。這種測量僅適用于Rs> 5kΩ/平方的大表面電阻采樣。樣品的小尺寸取決于諧振器的工作頻率。SPDR適合在-270℃至110℃的溫度下工作。
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