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QNix 4500便攜式膜厚儀

    篤摯儀器： 我們經(jīng)營各類物理測量儀器，是世界的正規(guī)代理商和供應(yīng)商，產(chǎn)品種類齊全，包括各種測量儀器及相關(guān)的各種配件，我們的產(chǎn)品覆蓋zui常見的測量任務(wù)。 對于非標(biāo)準(zhǔn)測量，可以使用多種系統(tǒng)附件，以便對整個測量任務(wù)進(jìn)行系統(tǒng)定制。詢價，我們有專業(yè)的技術(shù)人員和多年的從業(yè)經(jīng)驗，可以提供根據(jù)您的具體要求為您提供量身定制的測量方案。

    測厚儀采用的電子技術(shù),能滿足各種不同的測量要求。高精度的設(shè)備,堅固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護(hù),它的壽命會很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性 和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴 露在強(qiáng)烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時, 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時,請不要自行修理,我們的維修部門 隨時竭誠為您服務(wù)。 產(chǎn)品從購買之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。

QNix 4500便攜式膜厚儀

    可以測量磁性基體(Fe模式)；可以測量非磁性基體(NFe模式)；測量范圍：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um；顯示精度:0.1um；精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)  1000-3000um≤±3%讀數(shù)；zui小接觸面：10×10mm；zui小曲率半徑:凸面：3mm；凹面：25mm；zui小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm；溫度補(bǔ)償范圍:0-60℃；顯示:LCD液晶(帶背光)；探頭:紅寶石固定式；電源：2×1.5V干電池；尺寸：100×60×27mm；重量：110g

    通過與工藝，行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶密切合作，已經(jīng)創(chuàng)建了一個模塊化涂層厚度計，將各種經(jīng)過驗證的QNix量規(guī)的許多特性結(jié)合在一個設(shè)備中。模塊化測量系統(tǒng)是一種特別小巧便利的涂層厚度計，可直接插入微型探頭。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長電纜。模塊化測量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動性，高測量精度，易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 是一種特別小巧便利的測量儀，用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進(jìn)行非破壞性測量?？梢酝ㄟ^直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長電纜上使用。

QNix 4500便攜式膜厚儀

儀器使用：

1.開機(jī)： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實，儀器將 自動開機(jī)。（使用時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起，離開被測物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測量。）
2.設(shè)置： 開機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix®4500 為 4 個選項，QNix®4500 為 2 個選 項，見下圖：
選擇基體 選擇基體 Fe NFe Fe/NFe 取平均值 QNix®4500 QNix®4200
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix®4500）， “Fe/NFe”為自動識別基體模式（僅 QNix®4500）， “取平均值”為儀器自動顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量）。
按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標(biāo)在選項上停留 2 秒后，進(jìn) 入所選項目。如在“Fe”選項上停留 2 秒后，儀器顯示如下：
Fe 測量模式
這時儀器進(jìn)入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動識別）模式下工作。
進(jìn)入“取平均值”選項后，儀器顯示如下
取平均值 關(guān) 開
在“開”選項上停留 2 秒后，取平均值開啟，測量時顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀
數(shù)的平均值（包括本次測量），測量時在屏幕右上角出現(xiàn)“
— X ”符號時表示取平
均值開啟，如不需要請關(guān)閉（在取平均值選項里選擇“關(guān)”）即可。

3.測量： （1）調(diào)零： 儀器在測量前，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零，因為材料之間導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同，會造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上， 不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照，拿起探頭”或聽到儀器響聲后，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響 聲后，液晶顯示 0，調(diào)零完畢。
注意：由于工件表面粗糙度等原因，調(diào)零后，再測時不一定是的零位， 這是正?，F(xiàn)象。
（2）測量 將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動測出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

4.分體型說明： QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線分體型設(shè) 計，測量方便、穩(wěn)定、準(zhǔn)確，探頭連接線堅固耐用，還可滿足一些狹小空間的測 量。探頭線和探頭可更換。