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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2020-02-17 09:20:00瀏覽次數(shù)：1078
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
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MarSurf PS1表面粗糙度儀，適用于符合標準要求的表面粗糙度測量范圍，重量輕且便攜式測量解決方案。它不僅測量峰到谷的高度，還可以給出樣品區(qū)域遇到的峰的頻率。 Elcometer還提供各種手寫筆拾音器和配件，以滿足您的所有檢查需求。
MarSurf PS1是符合標準要求表面粗糙度測量范圍的輕便便攜式測量解決方案。 該單元還適用于在廣泛的一般工業(yè)應用中評估表面粗糙度條件; 特別是樣品太大而無法帶到實驗室。 表面粗糙度的測量用Ra，Rz或Rt表示。 這些值包括峰 - 谷分布測量結合對樣本區(qū)域內(nèi)峰值頻率的評估。
•多語言顯示
•集成校準標準
篤摯儀器（上海）有限公司是德國馬爾mahr(中國區(qū))供應中心(即德國馬爾粗糙度儀經(jīng)銷商，)，是中國的光學儀器、無損檢測、色譜與光譜耗材專業(yè)供應商，常年提供*的德國馬爾粗糙度儀mahr，客戶遍及。作為mahr馬爾粗糙度儀代理商我們備有大量的現(xiàn)貨和具有競爭力的價格。
MarSurf PS1表面粗糙度測試儀由一個手寫筆組成，該筆筆在表面上機械地繪制，在預定義的樣本長度上記錄表面粗糙度的“圖像”。測量技術提供了許多測量參數(shù)，包括：
Rmax：采樣長度之間zui高峰和zui低谷之間的zui大距離。
Ra：采樣長度上的平均表面粗糙度。
Rt：任何給定采樣長度內(nèi)zui高峰和zui低谷之間的距離。
Rz：多個采樣長度之間zui高峰和zui低谷之間的平均距離。
一般規(guī)格：
測量單位：公制，英寸
測量原理：觸筆方法
觸控筆提供（其他觸控筆可選）：感應式滑蓋式觸筆拾取，2μm（80μin）觸針筆尖，測量力約。 0.7 mN
參數(shù)：24（公差極限）：Ra，Rq，Rz等于至R y（JIS），Rz（JIS），Rmax，Rp，Rp（ASME），Rpm（ASME），Rpk，Rk，Rvk，Mr1，Mr2，A1，A2，Vo，Rt，R3z，RPc，Rmr equiv。至Tp（JIS，ASME），RSm，R，Ar，Rx
測量范圍：350μm，180μm，90μm（自動變化）
配置文件分辨率：32nm，16nm，8nm（自動更改）
過濾器：根據(jù)DIN EN ISO 11562的相位校正型材過濾器（高斯過濾器），符合DIN EN ISO 13565-1的特殊過濾器，符合DIN EN ISO 3274標準的過濾器（可禁用）
截止：0.25mm，0.8mm，2.5mm;自動（0.010“，0.030”，0.100“）
行程長度：1.75mm，5.6mm，17.5mm;自動（0.069“，0.22”，0.69“）
移動長度（根據(jù)MOTIF）：1mm，2mm，4mm，8mm，12mm，16mm（0.040“，0.080”，0.160“，0.320”，0.480“，0.640”）
短截止值：可選擇
評價長度：1.25mm，4.0mm，12.50mm（0.050“，0.15”，0.50“）
采樣長度的數(shù)字n：可選：1到5
校準功能：動態(tài)
內(nèi)存容量：zui大15個配置文件，zui多20,000結果
其他功能：阻止設置（代碼保護），日期/時間
電池：鋰離子電池
接口：USB，Mar Connect（RS232）
尺寸：140mm×50mm×70mm（5.51“×1.97”×2.76“）
可以按照以下使用：
ASTM D7127，ASME B46，DIN 4768，EN 10049，ISO 4287，ISO 4287/1，JIS B 0601
