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您有多了解X射線熒光分析儀
閱讀：621 發(fā)布時(shí)間：2019-1-7
X射線熒光分析儀適合不同使用者的，針對(duì)不同使用者準(zhǔn)備了兩種操作模式。對(duì)于分析初學(xué)者秩序選擇條件即可進(jìn)行測(cè)量。無(wú)需進(jìn)行各種設(shè)定。對(duì)于專業(yè)分析人員可根據(jù)實(shí)際樣品，自由設(shè)定測(cè)量和檢測(cè)器的條件，從而發(fā)揮驚人的靈敏度和再現(xiàn)性。
在測(cè)定微量成分時(shí)，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測(cè)比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對(duì)高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動(dòng)切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。
為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，必須對(duì)生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)不能*生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。由于化學(xué)分析方法分析速度的限制，實(shí)際上，采用化學(xué)分析方法對(duì)于生產(chǎn)過程來(lái)說(shuō)只有事后監(jiān)測(cè)的意義，而沒有控制意義，往往是當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)某個(gè)控制環(huán)節(jié)有問題時(shí)，已經(jīng)造成了嚴(yán)重的后果，給工廠帶來(lái)了很大的損失。
X射線熒光分析儀原理：XRF分析是由X射線管發(fā)出的一次X射線，當(dāng)施加給X射線管的電壓達(dá)到某一高度值，X射線管發(fā)射的一次X射線的能量足以激發(fā)樣品所含元素原子的內(nèi)層電子，被逐出的電子為光電子，同時(shí)軌道上形成空穴，原子處于不穩(wěn)定狀態(tài)。此時(shí)，外層高能級(jí)的電子自發(fā)向內(nèi)層躍遷*空位，使原子恢復(fù)到穩(wěn)定的低能態(tài)，同時(shí)輻射出具有該元素特征的二次X射線，也就是特征熒光X射線。