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產(chǎn)品簡介
二手鎢燈絲電鏡 二手SEM: 日本電子，日立，F(xiàn)EI，蔡司，基恩士，泰斯肯，以上品牌各一。歡迎咨詢鎢燈絲電鏡和場發(fā)射電鏡。
詳細介紹
二手鎢燈絲電鏡 二手SEMJSM-IT200A掃描電子顯微鏡
主要特長
優(yōu)秀電子光學系統(tǒng)
JSM-IT200A是株式會社最新升級版機型，集合了分析掃描電鏡精髓功能，結構緊湊、節(jié)省空間，分辨率高。
操作舒適快捷
JSM-IT200A擁有非常直觀的操作系統(tǒng)，即使沒有經(jīng)驗的用戶也可進行操作高品質的SEM圖像，以及高效率元素分析。可支持操作觸摸屏。
安裝的靈活性
節(jié)省空間，安裝方便。一個電源插座就足以安裝。不需要任何冷卻水。
二手鎢燈絲電鏡 二手SEM主要性能
SEI Mode Resolution 二次電子圖像分辨率 | 3.0nm @ 30KV WD 8mm 8.0nm @ 3KV WD 6mm 15.0nm @ 1KV WD 6mm |
專為高通量分析和樣品制備量身打造的SEM
鎢燈絲電鏡掃描電子顯微鏡（FE-SEM）鏡筒的強像和分析性能與新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力相結合。無論是切割、成像或進行3D分析，Crossbeam系列都能極大地提升您的應用體驗。使用Gemini電子光學系統(tǒng)，您可以從掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中獲取真實的樣品信息。Ion-sculptor FIB鏡筒引入了全新的FIB加工方法，能夠減少樣品損傷，提升樣品質量，從而加快實驗進程。
通過為您量身定制的儀器，實現(xiàn)高質量和高通量的TEM薄片樣品制備。您可以充分利用Crossbeam 350的可變壓力功能，或選擇更適配樣品的樣品倉尺寸，用Crossbeam 540對您急需的樣品實現(xiàn)更嚴苛的制備與表征。無論用于科研機構還是工業(yè)實驗室，單用戶實驗室或多用戶實驗平臺，如果您想獲得高質量，高影響力的實驗結果，模塊化平臺設計可讓您根據(jù)自身需求的變化，隨時對儀器系統(tǒng)進行升級。
FIB聚焦離子束以及SEM掃描電鏡都屬于貴重的實驗設備，購買投資比較高，使用者根據(jù)實際使用的要求，在滿足目前使用要求以及未來5年內(nèi)的使用條件變化的情況下，二手FIB以及二手SEM的價格會遠低于全新設備。尤其在資金不足或預算不夠的情況下，二手FIB是理想的選擇。
二手FIB或二手電鏡不代表設備性能低下，也不代表技術落后，作為高精密儀器，設備的設計使用壽命一般會比較長，設備更新?lián)Q代很多是在部分環(huán)節(jié)做了升級改動。如果調(diào)試和保養(yǎng)的比較好的舊設備，如果再做部分升級翻新性能不遜于全新的設備。