高低溫溫度沖擊試驗箱(左右吊籃沖擊):電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復測試。
一、型號:TSC-225PF-2P
二、沖擊溫度:-40~150
三、精度條件:高溫~低溫5分鐘內達到,9點溫度均勻度正負2度
高低溫溫度沖擊試驗箱(左右吊籃沖擊)
1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內,并將試驗箱(室)內溫度升到達點,保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準。
2)高溫階段結束后,在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內,保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準。3)低溫階段結束后,在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內,保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準。
4、重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據樣件大小與空間大小,時間可能會略有誤差?;謴停涸囼灅悠窂脑囼炏鋬热〕龊?,應在正常的試驗大氣條件下進行恢復,直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。
5.后檢測:對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。