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紅外線氣體分析儀的原理介紹
閱讀：1305 發(fā)布時間：2018-10-17
紅外線氣體分析儀是利用紅外線進行氣體分析，基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。
主要用于衛(wèi)生防疫部門、環(huán)境檢測站等部門，對賓館、商店、影劇院、舞廳、醫(yī)院、車廂、船艙等公共場合的各種氣體濃度的測定，也可用于實驗室分析。
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面．強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：i=i0e-kcl(比爾定律)
式中：i--被介質(zhì)吸收的輻射強度；
i0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度；
k--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)；
c--待分析組分的氣體濃度；
l--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定；紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度i0一定；氣室長度l一定。從比爾定律可以看出：通過測量輻射能量的衰減i，就可確定待分析組分的濃度c了。