CAMTEK 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn) 2D檢測(cè)設(shè)備  EagleT-I

公司概述

Camtek是一個(gè)的開(kāi)發(fā)商和制造商的半導(dǎo)體行業(yè)檢驗(yàn)和計(jì)量設(shè)備。Camtek的系統(tǒng)檢查和測(cè)量晶圓半導(dǎo)體器件的整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程,包括前道和封裝,和組裝的檢測(cè)。Camtek系統(tǒng)檢查晶片是的半導(dǎo)體市場(chǎng),包括先進(jìn)互連包裝、內(nèi)存、CMOS圖像傳感器、微機(jī)電系統(tǒng)和射頻,服務(wù)行業(yè)的全球IDMs OSATs和鑄造廠。

性能：Camtek檢驗(yàn)和計(jì)量系統(tǒng)可以在高通量檢測(cè)有缺陷的ICs可靠,確保只有known-good-die交付給客戶(hù)的最終產(chǎn)品。先進(jìn)的包裝技術(shù)的增長(zhǎng),已被證明是*的解決方案的產(chǎn)品,Camtek提供了各種檢驗(yàn)和計(jì)量技術(shù),可以根據(jù)客戶(hù)的需求快速高效地幫助他們滿(mǎn)足的要求沒(méi)有缺陷的產(chǎn)品以及支持需求增長(zhǎng)和投放市場(chǎng)的時(shí)間。

主要應(yīng)用領(lǐng)域：CMOS傳感器陣列，LED良率監(jiān)測(cè)，MEMS特殊結(jié)構(gòu)監(jiān)測(cè)，TSV，mBUMP等。大量產(chǎn)的2D檢測(cè)適用于部分前道工藝：電鍍bump前后檢測(cè)、電測(cè)針印大小的檢測(cè)、OQC檢測(cè)、劃片后的檢測(cè)等；

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

基于CAD圖層檢測(cè)；

的圖像銳化功能；

可以檢測(cè)RDL后小到2um線(xiàn)寬；

兼容檢測(cè)方片、翹曲片；

可以檢測(cè)小到0.2um的表面缺陷；

多重放大倍數(shù)，提高檢測(cè)能力。

1. Eagle-I

Eagle是大量產(chǎn)的2D檢測(cè)設(shè)備，采用了CAMTEK的檢測(cè)系統(tǒng)。

大量產(chǎn)的2D檢測(cè)適用于部分前道工藝：

• 電鍍bump前后檢測(cè)；

• 電測(cè)針印大小的檢測(cè)；

• OQC檢測(cè)；

• 劃片后的檢測(cè)等；

同時(shí)又適用于器件的檢測(cè)：

• CMOS 圖像傳感器；

• MEMS特殊結(jié)構(gòu)監(jiān)測(cè)；

LED良率監(jiān)測(cè)等。