植物圖像分析系統(tǒng)廠家|價(jià)格|河南云飛科技

多功能植物圖像分析儀是一種在實(shí)驗(yàn)室使用的植物圖像分析設(shè)備。采用統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，可精確、快速地測定葉片的葉面積和葉色參數(shù)，以及瓜果截面各部分的參數(shù)，也可對(duì)采摘的植物葉片及其它片狀物體進(jìn)行面積測量，還可進(jìn)行葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動(dòng)分檔查詢，用于植物或作物氮肥狀態(tài)的快速評(píng)價(jià)）。系統(tǒng)的植物年輪分析模塊可用于樹木年代學(xué)、年輪生態(tài)環(huán)境變化學(xué)、年輪氣候?qū)W、地理科學(xué)、考古學(xué)研究。
植物圖像分析系統(tǒng)    產(chǎn)品簡介：
該多用途*型的植物葉面積、根系、年輪、葉色分析儀是一種方便、可在野外或?qū)嶒?yàn)室使用的綜合性分析儀器，精確度遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)的分析儀（傳送或基于相機(jī)的類型）。采用統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，可精確、快速、無損傷地測定葉片的葉面積和葉色參數(shù)，也可對(duì)采摘的植物葉片及其它片狀物體進(jìn)行面積測量，還可進(jìn)行葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動(dòng)分檔查詢，用于植物或作物氮肥狀態(tài)的快速評(píng)價(jià)）。系統(tǒng)的植物年輪分析模塊可用于樹木年代學(xué)、年輪生態(tài)環(huán)境變化學(xué)、年輪氣候?qū)W、地理科學(xué)、考古學(xué)研究。植物根系分析模塊為可選模塊，用于洗根后的專業(yè)根系分析，可分析根系長度、直徑、面積、體積、根尖記數(shù)等，其功能強(qiáng)大，操作簡單，運(yùn)用于根系形態(tài)和構(gòu)造研究。該儀器綜合了植物、農(nóng)作物在葉面積、根系、年輪、葉色這4大方面的分析功能，廣泛適用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)、氣象等部門。
植物圖像分析系統(tǒng)  技術(shù)參數(shù)：
葉分析測量參數(shù)：葉面積 （可累計(jì)面積）、葉片面積（可累計(jì)面積）、葉子穿孔面積 （可累計(jì)面積）、葉片長度和寬度、葉柄長度、葉周長 （不受葉片孔洞影響）、葉片周長、葉片長寬比、葉片形狀系數(shù)、自定義長度和角度測量，葉片鋸齒高度、寬度、數(shù)量測量，葉孔面積測量；包膜（齒-齒之間的直線長度和），包膜形成的投影面積；不規(guī)則葉片形態(tài)分析，輔助真彩病理分析，葉片顏色分析（包括按葉片顏色自動(dòng)分檔查詢，用于氮肥狀態(tài)的外觀評(píng)價(jià)）。
植物年輪測量分析：可自動(dòng)判讀年輪數(shù)、各年輪平均寬度、早材及晚材寬度、各年輪切向角度和面積。可自動(dòng)劃分出年輪邊界、早材邊界、晚材邊界，以及識(shí)別出很窄的樹輪，可交互刪除偽年輪、插入斷年輪。分析獲得的測量數(shù)據(jù)具備進(jìn)一步做交叉定年、生成年表、數(shù)據(jù)分析處理能力。
植物根系可分析測量：1）根總長；2）根平均直徑；3）根總面積；4）根總體積；5）根尖計(jì)數(shù)；6）分叉計(jì)數(shù)；7）交疊計(jì)數(shù)；8）根直徑等級(jí)分布參數(shù)，等。匹配專門的雙光源照明系統(tǒng)，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現(xiàn)象的影響，有效保證圖像質(zhì)量。采用非統(tǒng)計(jì)學(xué)方法測量計(jì)算出交叉重疊部分根系長度等，可讀取處理TIFF、BMP、JPEG標(biāo)準(zhǔn)格式的圖像。
植物葉面積分析   植物葉色比對(duì)分檔
植物年輪分析1    植物年輪分析2
植物根系分析1    植物根系分析2

植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀*采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中zui精確和zui省力、省時(shí)、快捷方便的方法。植物圖像分析系統(tǒng)廠家|價(jià)格|河南云飛科技

植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀*采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中zui精確和zui省力、省時(shí)、快捷方便的方法。