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2017-1-20 閱讀(2440)
1 前言
特種設備檢驗檢測機構(含綜合檢驗機構、無損檢測機構,下同)應當根據(jù)國務院[2003]第373號令《特種設備安全監(jiān)察條例》的規(guī)定,經(jīng)國務院特種設備安全監(jiān)督管理部門核準,方可從事特種設備檢驗檢測工作,并對檢驗檢測結果、鑒定結論承擔法律責任。
這些經(jīng)核準的特種設備檢驗檢測機構,往往為了提高機構的度、為了提高機構的質(zhì)量管理水平、為了滿足客戶的要求,還會獲取計量認證、實驗室認可、檢查機構認可等資格。
上述資格核準、計量認證、實驗室認可、檢查機構認可的規(guī)則、準則中,對無損檢測儀器設備均提出了檢定、校準和核查等的要求。
按照資格核準的TSG Z7003《特種設備檢驗檢測機構質(zhì)量體系要求》中第十九條(二)規(guī)定:檢測儀器設備在投入工作前應當進行檢定(校準)、核查,以驗證其能夠滿足檢驗檢測的需要。應當使用適宜標識表明其檢定(校準)狀態(tài)。
按照計量認證的《實驗室資質(zhì)認定評審準則》中第5.5.1條規(guī)定:實驗室應確保其相關檢測結果能夠溯源至國家基標準。實驗室應制定和實施儀器設備的校準和/或檢定(驗證)、確認的總體要求。對于設備校準,應繪制能溯源到國家計量基準的量值傳遞方框圖(適用時),以確保在用的測量儀器設備量值符合計量法制規(guī)定;第5.6.1條規(guī)定:用于檢測和/或校準的對檢測、校準和抽樣結果的準確性或有效性有顯著影響的所有設備,包括輔助測量設備(例如用于測量環(huán)境條件的設備),在投入使用前應進行校準。實驗室應制定設備校準的計劃和程序。
按照實驗室認可的CNAS-CLO1《檢測和校準實驗室能力認可準則》(ISO/IEC 17025:2005)中第5.5.2條的規(guī)定:對結果有重要影響的儀器的關鍵量或值,應制定校準計劃。設備(包括用于抽樣的設備)在投入服務前應進行校準或核查,以證實其能夠滿足實驗室的規(guī)范要求和相應的標準規(guī)范。設備在使用前應進行核查和/或校準。
但是,在無損檢測儀器設備實際管理中,那些儀器設備需要檢定?那些需要校準?如何進行自校準?如何進行核查(驗證)?等等,由于理解不一、說法不一,均困惑著我們。
筆者zui近解讀了香港實驗室認可的《鋼和金屬焊接的無損檢測的認可準則增補第15》(HOKLAS Supplementary Criteria 5《Accreditation of Non-Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》),受該準則增補的啟發(fā),就保證檢測結果準確和量值溯源上,筆者對特種設備無損檢測儀器設備的檢定、校準及校驗提出一些相應的要求,并試圖滿足特種設備檢驗檢測機構資格核準、計量認證、實驗室認可的要求。
2 關于無損檢測儀器設備檢定、校準/自校準與校驗的理解
2.1 關于檢定
檢定具有法定性,屬于《計量法》計量管理范疇的執(zhí)法行為,檢定的結論具有法律效力;檢定是對測量器具的計量特征及技術要求的全面評價,這種全面評定屬于量值統(tǒng)一的范疇,是自上而下的量值傳遞過程;檢定的依據(jù)是檢定規(guī)程(JJG)。故,凡列入《中華人民共和國強制檢定的工作計量器具明細目錄》(原國家計量局[1987]量局法字第188號,后國家質(zhì)檢總局先后三次頒布國家強制檢定目錄[1991]374號、[1999]15號、[2001]162號共計相數(shù)61相、種數(shù)118種)的,并直接用于貿(mào)易結算、安全防護、醫(yī)療衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測的檢測儀器設備必須嚴格依法定點、定期送有資格的法定計量檢定機構和授權計量檢定機構進行強制檢定,檢定合格的發(fā)檢定合格證書。列入強制檢定的有:天平、壓力表、接地電阻測量儀表、絕緣電阻測量儀、有害氣體分析儀、分光光度計、電離放射防護儀(射線監(jiān)測儀、照射量率儀、放射性表面污染儀、個人劑量計等)。
計量檢定的依據(jù)必須是計量檢定規(guī)程。國家計量檢定規(guī)程由國務院計量行政部門制定。
無損檢測儀器設備方面,制定有計量檢定規(guī)程有:JJG746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》、JJG40-2001《X射線機檢定規(guī)程》、JJG452-1986《黑白標準密度片檢定規(guī)程》、JJG100-1992《磁粉探傷機檢定規(guī)程》、JJG403-1986《超聲波測厚儀檢定規(guī)程》、JJG747-1999《里氏硬度計檢定規(guī)程》等。
另外,凡列入《中華人民共和國依法管理的計量器具目錄(型式批準部分)》(2005年第145號,自2006年5月1日起施行)的執(zhí)行計量器具許可證、型式批準和進口計量器具檢定。列入依法管理的有:測厚儀、接地電阻測量儀表、絕緣電阻測量儀、噪聲測量分析儀器、照度計、個人劑量計、電導儀、PH計、分光光度計測距儀、經(jīng)緯儀、全站儀、水準儀、天平、流量計、材料試驗機、光譜儀、濁度計等。
隨著我國改革開放及經(jīng)濟的發(fā)展,我國加入WTO之后,法制計量的范圍將隨之調(diào)整,今后要強化檢定的法制性,屬強制檢定的計量器具實施檢定,非強制檢定的計量器具可采用校準、比對、測試等方式達到統(tǒng)一量值、溯源的目的。
2.2 關于校準和自校準
校準不具有法制性,是檢驗機構自愿溯源行為,校準的結論不具備法律效力,給出的《校準證書》只是標明量值誤差,屬于一種技術文件;校準的目的是對照計量標準,評定測量裝置的示值誤差,確保量值準確,屬于自下而上量值溯源的一組操作;校準的依據(jù)是校準規(guī)范(JJF)或參照檢定規(guī)程(JJG)。故對于大量的非強制檢定的檢測儀器設備,為確保其準確可靠,為使其測量結果具有溯源性,以采取校準為主要方式。校準溯源一般由有授權或認證的檢定或校準技術機構進行,也可由檢驗機構自行開展自校準。
因而,校準是實現(xiàn)量值統(tǒng)一和準確可靠的重要途徑。實際上,校準一直起著這個作用,只是在我國沒有明確地確定它在量值傳遞及量值溯源中的地位,而一直由*統(tǒng)一管理,實施單一的量值傳遞體系,僅僅采用檢定作為惟一合法的方式,這已不適應目前經(jīng)濟和技術發(fā)展的需要。此外,根據(jù)校準的定義,它可以直觀地理解為是確定示值誤差及其他計量特性的一組操作,所以在實施檢定的計量性能檢查中就包含著校準。
檢驗檢測機構開展自校準時,應按照國家現(xiàn)有的檢定規(guī)程或校準方法制定“自校準方法”,“自校準方法”參考《國家計量檢定規(guī)程編寫規(guī)則》JJF1002-1998編制,并提供試驗、比對驗證技術報告,證明“自校準方法”的正確、可靠和可行,同時自校準采用的工作標準或工作基準應能溯源到標準或國家基準。并且,自校準應有測量不確定度的分析,給出因校準產(chǎn)生的修正因子。
例:超聲波測厚儀如進行自校準的話,就應有經(jīng)校準合格的階梯試塊作為自校準的工作基準。
2.3 關于校驗
定期對無損檢測設備進行校驗,以了解設備情況,證明設備符合狀態(tài)良好,符合檢測要求。校驗的方法可參照相應標準(如JB/T4730 -2005《承壓設備無損檢測》)或儀器設備的技術說明書,甚至文獻介紹等。校驗可由使用單位進行,也可送外有資格單位進行校驗。使用單位自己校驗時,建議制定出相應的校驗作業(yè)指導書或者列出指導校驗操作的依據(jù)方法。
例:JB/T4730 -2005《承壓設備無損檢測》要求,黑度計每6個月校驗一次,校驗方法可按JB 4730.2附錄B要求;電磁軛磁粉探傷機的提升力至少半年校驗一次,校驗時應有經(jīng)校準合格的提升力試塊。
3 香港實驗室認可準則增補第15的解讀
香港實驗室認可的《鋼和金屬焊接的無損檢測的認可準則增補第15》是對對HKAS002(香港認可處)和HOKLAS 003(實驗室認可計劃-ISO/IEC 17025:2005)的補充和解釋。其在檢測設備及其校準方面專門有一個附錄,對各種檢測儀器設備提出了校準/校驗的要求,見下表:
3.1 UT檢測校準要求
設備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設備 |
探頭和電傳感裝置 (組合調(diào)試) | 每次使用前 | 校準試塊參考標準或校準試塊 |
校準試塊參考標準(例如:V1/A2、IOW、V2/A4、階梯試塊和A7試塊)(材料性能) | zui初 | 符合EN27963或BS2704 或相當?shù)臉藴?,制造商的合格?/p> |
校準試塊參考標準(例如:V1/A2、IOW、V2/A4、階梯試塊和A7試塊)(表面狀態(tài)) | 每次使用前 | 外觀檢查腐蝕及機械損傷情況 |
校準試塊參考標準 (半徑及其它尺寸檢查) | 8年 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款規(guī)定的有資格的校準機構 |
校準試塊 (檢測現(xiàn)場使用,例如:V2/A4試塊) | zui初 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款定義的有資格的校準機構 |
1年 | 參照適合的校準試塊參考標準檢查尺寸 | |
比對校準試塊 (材料性能,例如:DAC試塊) | zui初 | 制造商的材料證書 |
比對校準試塊 (表面狀態(tài),例如:DAC試塊) | 每次使用前 | 外觀檢查腐蝕及機械損傷情況 |
比對校準試塊 (尺寸,例如:DAC試塊) | 1年 | 用經(jīng)校準合格的測量工具檢查尺寸 |
超聲波檢測系統(tǒng) (探傷儀、探頭和連接電纜) | ||
a、檢查外觀損壞情況 | 每次使用前 | 檢查所有部件及相關裝置的外觀 |
b、水平線性 | 每次使用前 | 按BS2704,EN27963校準試塊或相當?shù)脑噳K |
c、垂直線性 | 每次使用前 | 按BS2704,EN27963校準試塊或相當?shù)脑噳K |
超聲波探傷儀 | 2年 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款定義的有資格的校準機構,符合BS4331或其它相當?shù)腅N、ISO標準要求 |
超聲波探頭 (特征參數(shù)) | ||
a、探頭前沿 | 每次使用前 | 按BS2704,EN27963校準試塊或相當?shù)脑噳K |
b、探頭角度 | 每次使用前 | |
c、主聲束偏離(偏斜) | 每次使用前 | |
d、傳輸補償 | 每次使用前 | 按BS2704,BS EN583-2校準試塊或相當?shù)脑噳K |
e、靈敏度和信噪比 | 每個月 | 按BS2704,EN27963校準試塊或相當?shù)脑噳K |
f、總系統(tǒng)增益 | 每個月 | |
g、聲束剖面尺寸 | 每個月 | 按BS2704校準試塊或相當?shù)脑噳K |
設備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設備 |
磁懸液中固體物含量
| 每批 | 符合標準(例如:BS、ASTM、或EN)的制造商的合格證書 |
每批樣品 | 檢查磁懸液中固體物含量符合相關標準 | |
熒光磁懸液及磁粉 (在檢測表面) | 每次檢測前 | 使用符合相關標準的黑光幅照計檢查黑光幅照度 |
熒光磁懸液及磁粉 (周圍環(huán)境白光亮度) | 每次檢測前 | 使用白光照度計檢查周圍環(huán)境白光亮度 |
非熒光磁懸液及磁粉 (在檢測表面) | 每次檢測前 | 使用白光照度計檢查照明強度 |
黑光幅照計 (作為參考標準表使用) | 1年 | 有資格的校準機構 |
黑光幅照計 (在工作中使用) | 1個月 | 與參考標準表對比檢查 |
白光照度計 (作為參考標準表使用) | 1年 | 有資格的校準機構 |
白光照度計 (在工作中使用) | 1個月 | 與參考標準表對比檢查 |
*磁鐵和電磁軛 | 每次檢測前 | 通過測量提升力或拉脫力檢查是否符合相關標準 |
提升力重力試塊 (用于檢查磁力強度) | 2年 | 采用合適的秤重天平校準 |
磁場方向 | 每次檢測前 | 使用磁場指示器檢查磁場方向符合相關的標準 |
磁場指示器 | zui初 | 制造商的合格證 |
磁懸液指示靈敏度 | 3個月 | 使用符合相關標準的靈敏度試片 |
設備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設備 |
滲透檢測劑 | 每次檢測前 | 符合相關標準的制造商合格證書 |
熒光滲透檢測 (在檢測表面檢查黑光輻照度) | 每次檢測前 | 使用黑光幅照計檢查黑光幅照度 |
非熒光滲透檢測 (在檢測表面檢查白光照度) | 1年 | 使用白光照度計檢查照明強度 |
黑光幅照計 (作為參考標準表使用) | 1年 | 有資格的校準機構 |
黑光幅照計 (在工作中使用) | 1個月 | 與參考標準表對比檢查 |
白光照度計 (作為參考標準表使用) | 1年 | 有資格的校準機構 |
白光照度計 (在工作中使用) | 1個月 | 與參考標準表對比檢查 |
設備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設備 |
X射線設備 | 1年 | 檢查焦點尺寸符合相關的標準 |
針空板(當標準有要求時) (用于檢查焦點尺寸) | 10年 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款定義的有資格的校準機構 |
幾何不清晰度 (當標準有要求時) | 每次檢測前 | BS2600:1983圖2和A.8條款或相關標準 |
放射同位素 | zui初 | 有衰減圖及尺寸記錄的檔案,制造商的合格證 |
r射線曝光量計算器 | zui初 | 制造商的合格證,或使用適當?shù)臋z查方法 |
射線底片(每批) | zui初 | 檢查每批樣品未曝光的灰霧度 |
像質(zhì)計(IQI) | zui初 | 符合相關標準的制造商合格證 |
射線膠片 (分級和使用) | zui初 | 符合相關標準的分級 |
射線膠片 (膠片處理) | 每次使用后 | 膠片處理符合膠片制造商推薦的方法 |
射線底片 (膠片處理之后) | 每次評片前 | 使用黑度計或黑度片檢查黑度,通過IQI確認底片的影像質(zhì)量 |
黑度計 | 1個月 | 按照標準黑度片校準 |
標準黑度片 (作為參考標準) | 5年 | 制造商的合格證 |
射線劑量計 | 1年 | 放射管理局(Radiation Board)認可的實驗室 |
北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司是集專業(yè)設計、開發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術股份制企業(yè),專注于新型材料試驗機的研制、材料檢測技術的提高及材料試驗方法的創(chuàng)新,是國內(nèi)的材料試驗檢測儀器的生產(chǎn)企業(yè)。
4 無損檢測儀器設備檢定與校準的要求
特種設備檢驗檢測機構,為了滿足機構核準、計量認證、實驗室認可的要求,為了保證檢測結果準確和量值溯源上,結合檢測儀器設備性能對檢測結果的影響和JB4730-2005《承壓設備無損檢測》的要求,筆者就常用于特種設備無損檢測的各種檢測儀器設備分別提出檢定、校準或校驗的建議。
4.1 UT 儀器的校準/校驗要求
(1)初次使用前,標準試塊尺寸精度應經(jīng)授權校準機構校準合格;
(2)標準試塊、對比試塊每次使用前應校驗外觀檢查腐蝕及機械損傷情況;每隔4年應用檢定/校準合格的器具校驗半徑及其它尺寸。
(3)超聲波探傷儀每1年送法定計量檢定機構或授權校準機構進行檢定/校準,執(zhí)行JJG 746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》。
(4)超聲波探傷機每隔3個月,應進行一次水平線性、垂直線性校驗,采用標準試塊,方法按照JB/T 9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測試方法》;
(5)探頭使用前應進行前沿距離(入射點)、K值(折射角β)與雙峰、主聲束偏離等主要參數(shù)進行校驗,方法按照JB/T 10062-1999《超聲探傷用探頭 性能測試方法》;
(6)超聲檢測系統(tǒng)每次使用前應進行靈敏度余量、儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下)、遠場分辨力等進行校驗,方法按照JB/T 9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測試方法》、JB/T 10062-1999《超聲探傷用探頭 性能測試方法》。
4.2 MT 儀器的校準/校驗要求
(1)*磁鐵或電磁軛磁粉探傷機的提升力至少半年校驗一次,利用檢定或校準合格提升力重力試塊進行;
(2)初次使用的提升力重力試塊經(jīng)校準合格;提升力重力試塊每2年利用檢定或校準過的秤重器具校驗一次。
(3)磁粉檢測設備的電流表至少半年校準,送有資格校準機構進行校準;
(4)黑光輻照計、照度計、磁場強度計、毫特斯拉計等,至少每1年送有資格校準機構進行校準;
(5)磁粉檢測系統(tǒng)綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)校驗,每天檢測工作開始前進行,用標準試片、標準試塊校驗。
(6)設備內(nèi)部短路檢查、電流載荷校驗、通電時間校驗等每年進行一次校驗。
4.3 PT儀器的校準/校驗要求
(1)黑光輻照度計、熒光亮度計和照度計等儀器,一般每1年送有資格校準機構進行校準。
4.4 RT 儀器的校準/校驗要求
(1)射線設備均應制作曝光曲線,曝光曲線每年至少校驗一次;射線設備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應及時對曝光曲線進行校驗或重新制作。
(2)黑度計(光學密度計)至少每6個月校驗一次,采用標準密度片校驗,校驗方法可按JB 4730.2附錄B要求;
(4)標準密度片每2年送法定計量檢定機構檢定一次,執(zhí)行JJG 452-1986《黑白標準密度片檢定規(guī)程》;
(5)個人劑量計、劑量報警儀每1年送法定計量檢定機構進行檢定或校準;
(6)觀片燈的亮度和均勻度應每年校驗一次。
4.5 渦流儀的校準/校驗要求
(1)對比試塊應用檢定/校準合格的器具校驗加工精度,每次使用前應校驗外觀檢查腐蝕及機械損傷情況;
(2)渦流探傷系統(tǒng)的檢測能力、周向靈敏度差、端部盲區(qū)、分辨力、連續(xù)工作穩(wěn)定性、線性等項目應每半年校驗一次,校驗方法按照GB/T 14480《渦流探傷系統(tǒng)性能測試方法》要求進行。
4.6 測厚儀的校準/校驗要求
(1)測厚儀每1年送法定計量檢定機構或授權校準機構進行檢定/校準,執(zhí)行JJG 403-1986《超聲波測厚儀檢定規(guī)程》或JJF11266-2004《超聲波測厚儀校準規(guī)范》;
(2)涂層測厚儀每1年送法定計量檢定機構進行檢定,執(zhí)行JJG 889-1995《磁阻法測厚儀檢定規(guī)程》、JJG818-1993《電渦流式測厚儀檢定規(guī)程》;
5 結語
特種設備檢驗檢測機構為了地實施質(zhì)量管理、保證檢測結果準確和量值溯源、保障無損檢測工作質(zhì)量,需要加強檢測儀器設備的管理,同時,無損檢測儀器設備的檢定、校準和校驗也是特種設備無損檢測機構資格核準、計量認證、實驗室認可的需要,筆者就廣大特種設備檢驗檢測機構所共同關心的問題提出個人的建議,所提出的建議不一定成熟,但也許能給讀者一些有益的啟發(fā)與幫助。北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司。