超聲無(wú)損檢測(cè)的名詞術(shù)語(yǔ)，了解這些術(shù)語(yǔ)所代表的確切含義，有助于更好的使用KD3600型超聲波探傷儀。
脈沖幅度：脈沖信號(hào)的電壓幅值。當(dāng)采用A型顯示時(shí)，通常為時(shí)基線到脈沖峰頂?shù)母叨取?br />
脈沖寬度：以時(shí)間或周期數(shù)值表示的脈沖持續(xù)時(shí)間。
分貝：兩個(gè)振幅或者強(qiáng)度比的對(duì)數(shù)表示。
聲阻抗：聲波的聲壓與質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度之比，通常用介質(zhì)的密度p和速度c的乘積表示。
聲阻抗匹配：聲阻抗相當(dāng)?shù)膬山橘|(zhì)間的耦合。
衰減：超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，隨著傳播距離的增大，聲壓逐漸減弱的現(xiàn)象。
總衰減：任何形狀的超聲束，其特定波形的聲壓隨傳播距離的增大，由于散射、吸收和聲束擴(kuò)散等共同引起的減弱。
衰減系數(shù)：超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，因材質(zhì)散射在單位距離內(nèi)聲壓的損失，通常以每厘米分貝表示。
缺陷：尺寸、形狀、取向、位置或性質(zhì)對(duì)工件的有效使用會(huì)造成損害，或不滿足規(guī)定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求的不連續(xù)性。
A型顯示：以水平基線(X軸)表示距離或時(shí)間，用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)(Y軸)表示幅度的一種信息表示方法。
發(fā)射脈沖：為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖。
時(shí)基線：A型顯示熒光屏中表示時(shí)間或距離的水平掃描線。
掃描：電子束橫過(guò)探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動(dòng)。
掃描范圍：熒光屏?xí)r基線上能顯示的zui大聲程。
掃描速度：熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。
延時(shí)掃描：在A型或B型顯示中，使時(shí)基線的起始部分不顯示出來(lái)的掃描辦法。
水平線性：超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)(通過(guò)校正的時(shí)間發(fā)生器或來(lái)自已知厚度平板的多次回波)成正比關(guān)系的程度。
垂直線性：超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)幅度成正比關(guān)系的程度。
動(dòng)態(tài)范圍：在增益調(diào)節(jié)不變時(shí)，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的zui大與zui小反射面積波高之比。通常以分貝表示。
脈沖重復(fù)頻率：為了產(chǎn)生超聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵(lì)探頭晶片的脈沖次數(shù)。
檢測(cè)頻率：超聲檢測(cè)時(shí)所使用的超聲波頻率。通常為0.4 MHz ~15MHz。
回波頻率：回波在時(shí)間軸上進(jìn)行擴(kuò)展觀察所得到的峰值間隔時(shí)間的倒數(shù)。
靈敏度：在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的zui小超聲信號(hào)的一種量度。
靈敏度余量：超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測(cè)靈敏度與zui大探測(cè)靈敏度之間的差值。
分辨力：超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距zui近的一定大小的兩個(gè)相鄰缺陷的能力。
抑制：在超聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號(hào)(電或材料的噪聲)，以突出較大信號(hào)的一種控制方法。
閘門：為監(jiān)控探傷信號(hào)或作進(jìn)一步處理而選定一段時(shí)間范圍的電子學(xué)方法。
衰減器：使信號(hào)電壓(聲壓)定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。
信噪比：超聲信號(hào)幅度與zui大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。
阻塞：接收器在接收到發(fā)射脈沖或強(qiáng)脈沖信號(hào)后的瞬間引起的靈敏度降低或失靈的現(xiàn)象。
增益：超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對(duì)數(shù)形式。以分貝表示。
距離波幅曲線(DAC)：根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個(gè)參量繪制的一組曲線。實(shí)際探傷時(shí)，可由測(cè)得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸。
耦合：在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。
試塊：用于鑒定超聲檢測(cè)系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。
標(biāo)準(zhǔn)試塊：材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或機(jī)構(gòu)檢定的試塊。用于對(duì)超聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度調(diào)整。
對(duì)比試塊：調(diào)整超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。
探頭：發(fā)射或接收(或既發(fā)射又接收)超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo)、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成。
直探頭：進(jìn)行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。
斜探頭：進(jìn)行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。
