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漏電起痕試驗(yàn)儀 型號(hào):DMLD-H | 貨號(hào):ZH5884 | ||||||||||||||||||||||||||||||
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 漏電起痕 試驗(yàn)是 IEC60112 : 2003、 GB4207-2007《固體緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》, UL746A 、 ASTM D 3638-92 、 DIN 53480 等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。 漏電起痕試驗(yàn)是在固體緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 (2mm×5mm) 的鉑電之間,施加某一電壓并定(30s) 定高度 (35mm) 滴下規(guī)定液滴體積的污染液體 (0.1%NH 4 CL) ,用以評(píng)價(jià)固體緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù) (PT1) 。 電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢,也適用于緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。 性能參數(shù)
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