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冷熱沖擊應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2024年12月12日
- 2025年3月13日
- 廣東深圳市
- 東莞市賽思檢測(cè)設(shè)備限公司
- 333次
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
【詳細(xì)說(shuō)明】
冷熱沖擊應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱對(duì)不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。改變了傳統(tǒng)進(jìn)行溫度循環(huán)、高低溫沖擊(兩箱)、高低溫+常溫沖擊(三箱)、應(yīng)力篩選ESS，至少需要購(gòu)買四臺(tái)設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購(gòu)很多種設(shè)備才能完成的試驗(yàn)，需耗費(fèi)許多添購(gòu)設(shè)備&占用空間的硬件成本， 一次解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗(yàn)的多樣性與多變性，提高機(jī)臺(tái)使用的稼動(dòng)率。并且不需再依不同待測(cè)品去耗費(fèi)時(shí)間手動(dòng)調(diào)整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動(dòng)幫您搞定，慶聲秉持著符合規(guī)范的原則，結(jié)合貼心的創(chuàng)新功能與技術(shù)，期待您詳細(xì)了解。
冷熱沖擊應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能；
2、可執(zhí)行慢速溫度循環(huán)[3～5℃/min]符合IEC60068-2、應(yīng)力篩選ESS[5～15℃/min]符合JESD22、快速溫變[15～30℃/min](40℃/min)、冷熱沖擊四種不同設(shè)備的溫變?cè)囼?yàn)Laboratory Class；
3、滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求；
4、待測(cè)品自動(dòng)負(fù)載調(diào)整免手動(dòng)設(shè)定預(yù)冷預(yù)熱，可依據(jù)待測(cè)品負(fù)載量系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整。
5、精靈快捷鍵 人性化快速進(jìn)入選單高低溫常溫沖擊 ；
6、超低除霜次數(shù) 高低溫常溫沖擊(3 Zoon)100Cycle免除霜，縮短試驗(yàn)時(shí)間與能耗。
7、賽思采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行；
9、通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能；
10、感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出（回）風(fēng)口賽思設(shè)計(jì)符合實(shí)驗(yàn)有效性；
11、機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能；
冷熱沖擊應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱測(cè)試規(guī)范：
標(biāo)準(zhǔn)：滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求。
TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn) |
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | |
25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) | |
24℃/min→ | 光纖連接頭 | |
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命 | |
17℃/min→ | MOTO | |
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) | |
11℃/min→ | 無(wú)鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | |
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試 | |
5℃/min→ | 錫須溫度循環(huán)試驗(yàn) |
冷熱沖擊應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：
型號(hào) | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內(nèi)箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
預(yù)冷、預(yù)熱范圍 | -00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃ | |||
應(yīng)力沖擊范圍 | -10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃ | |||
時(shí)間設(shè)定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
溫度均勻度 | ±3.00℃以內(nèi)（under℃3.00℃） | |||
溫度應(yīng)力變化范圍（zui小/分鐘） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
沖擊試驗(yàn)溫度 | -65℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||
三箱沖擊溫度范圍 | -55℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||
