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HALT試驗箱應(yīng)力篩選
【產(chǎn)品簡介】
【詳細說明】
HALT試驗箱應(yīng)力篩選 用途:
對不同電子構(gòu)件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標(biāo)示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
HALT試驗箱應(yīng)力篩選 特 點:
1.可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能
2.等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃/min(40℃/min)
3.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求
4.采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行
5.除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成;
6.通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能
7.感測器放置測試區(qū)出(回)風(fēng)口符合實驗有效性
8.機臺多處報警監(jiān)測,配置無線遠程報警功能
溫度控制范圍:
TSR(斜率可控制) |
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30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗 | ||
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | ||
25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) | ||
24℃/min→ | 光纖連接頭 | ||
20℃/min→ | IPC-9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命 | ||
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17℃/min→ | MOTO | ||
15℃/min→ | IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) | ||
11℃/min→ | 無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | ||
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 | ||
5℃/min→ | 錫須溫度循環(huán)試驗 | ||
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技術(shù)規(guī)格:
型號 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內(nèi)箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
預(yù)冷、預(yù)熱范圍 | -00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃ | |||
應(yīng)力沖擊范圍 | -10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃ | |||
時間設(shè)定范圍 | 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
溫度均勻度 | ±3.00℃以內(nèi)(under℃3.00℃) | |||
溫度應(yīng)力變化范圍(zui小/分鐘) | +5℃~+30℃/min(+40℃) | |||
沖擊試驗溫度 | -65℃~+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||
三箱沖擊溫度范圍 | -55℃~+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) |