詳細(xì)介紹
~4、產(chǎn)品基本參數(shù)
4.1容積、尺寸和重量
4.1.1標(biāo)稱內(nèi)容積 150L
4.1.2工作室尺寸 500×500×600mm (深×寬×高)
4.1.3 提籃尺寸 300×300×400mm (深×寬×高)
4.1.4外型尺寸 1570×1890×2030mm(深×寬×高)
(此為近似尺寸具體以實(shí)物為準(zhǔn),吊籃氣缸裝在右側(cè))
4.1.5結(jié) 構(gòu) 兩箱法沖擊(高溫室、低溫室),工作室上下結(jié)構(gòu)
4.1.6測(cè)試溫度范圍 -40℃~+180℃
4.1.7重 量 約600 kg
4.2性能
4.2.1測(cè)試環(huán)境條件 環(huán)境溫度+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下。
4.2.2測(cè)試方法 GB/T 5170.2-1996 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》
4.2.3測(cè)試方式 待測(cè)物*靜止測(cè)試方式。此方法是當(dāng)前電子部品測(cè)試用、研究用、以及半導(dǎo)體大量篩選用之*。
4.3高溫室
4.3.1預(yù)熱溫度范圍 常溫~+180至200℃
4.3.2升溫時(shí)間 常溫~+180℃ 約30分鐘
4.4低溫室
4.4.1預(yù)冷溫度范圍 常溫~-70
4.4.2降溫時(shí)間 常溫~--55℃ 約30分鐘
4.5測(cè)試性能
4.5.1溫度沖擊范圍 -55℃~+150℃
4.5.2溫度均勻度 ≤2℃
4.5.3溫度波動(dòng)度 ≤±1℃
4.5.4恢復(fù)時(shí)間 ≤5min
4.5.5切換時(shí)間 ≤5s
4.5.6溫度校準(zhǔn)點(diǎn)為 +23 °C and +80 °C
4.5.7滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 溫度變化
IEC 68-2-14(1984)《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第二部分:試驗(yàn)N:溫度變化》
低溫室
IEC 60068-2-1, test A
GB/T2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫
高溫室
IEC 60068-2-2, test B
GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B 高溫
4.5.8其它標(biāo)準(zhǔn) GJB360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)
GJB150.5-86 溫度沖擊試驗(yàn)
GB/T2423.22 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》
4.5.9負(fù)載 負(fù)載:30kg。
5、結(jié)構(gòu)特征
5.1結(jié)構(gòu)材質(zhì) 外壁材料:冷軋鋼板靜電噴塑
內(nèi)壁材料:SUS304#不銹鋼板
箱體保溫材料:硬質(zhì)聚氨酯泡沫+進(jìn)口超細(xì)玻璃纖維
門保溫材料:進(jìn)口超細(xì)玻璃纖維、硅橡膠、密封條。
二箱吊籃式結(jié)構(gòu),上部為高溫箱,下部為低溫箱,沖擊方式采用高溫箱,低溫箱靜止, 試料部件通過上下移動(dòng)之吊攔快速移動(dòng)到高、低溫箱內(nèi),從而實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。
5.2空氣調(diào)節(jié) 寬帶式強(qiáng)迫氣流循環(huán)使得測(cè)試室與其他蓄溫室快速達(dá)到溫度平衡,更縮短轉(zhuǎn)換時(shí)間。
5.3空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng) 離心風(fēng)機(jī)、加熱器、蒸發(fā)器、溫度傳感器、循環(huán)風(fēng)道、風(fēng)機(jī)、葉輪等。
5.4標(biāo)準(zhǔn)配置 腳 輪:4個(gè)
電源線:6米
RS232通訊接口
5.5設(shè)備大門 上、下二個(gè)區(qū)分別設(shè)有一扇門,采用雙層耐高低溫不銹鋼板及硅橡膠二層密封以確保測(cè)試區(qū)之密閉。門框裝有防凝露電熱裝置。
5.6控制面板 控制器顯示屏、照明開關(guān)、電源開關(guān)。
5.7機(jī)械室 制冷機(jī)組、接水盤、風(fēng)冷冷凝器、干燥器、加熱器、板換、儲(chǔ)液罐、油分離器等。
5.8配電控制柜 配電板、電子元器件、排風(fēng)扇等 。