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[供應(yīng)]高頻數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
產(chǎn)地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號(hào)
更新時(shí)間：2024-11-25 09:59:08
有效期：2024年11月25日 -- 2025年2月23日
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ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
儀器介紹
ZJD-B全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。
ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀讀書清晰,無(wú)須換算,操作簡(jiǎn)便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器.
技術(shù)參數(shù)
信號(hào)源頻率范圍 | DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz | Q測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
信號(hào)源頻率覆蓋比 | 6000:1 | Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 |
信號(hào)源頻率精度 | 3X10 -5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù) | Q測(cè)量工作誤差 | <5% |
電感測(cè)量范圍 | 15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 調(diào)諧電容 | 主電容30-500PF |
電感測(cè)量誤差 | <5% | 調(diào)諧電容誤差和分辨率 | ±1.5P或<1% |
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量頻點(diǎn) | 全波段任意頻率下均可測(cè)試 | Q合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 |
諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 | Q量程切換 | 自動(dòng)/手動(dòng) |
諧振指針 | LCD顯示 | LCD顯示參數(shù) | F,L,C,Q,波段等 |
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