產(chǎn)品簡介
應(yīng)用-RoHS/WEEE
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
-電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量
-五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
-貴金屬合金分析和牌號鑒定
詳細(xì)介紹
鍍層測厚儀 X-ray鍍層分析儀 電鍍鍍層厚度檢測儀器產(chǎn)品介紹:
新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。
采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點,對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。
樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。
設(shè)計更科學(xué),軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
鍍層測厚儀 X-ray鍍層分析儀 電鍍鍍層厚度檢測儀器產(chǎn)品指標(biāo):
測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測量下限:0.003um
測量上限:30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù):10層
測量用時:30-120秒
探測器類型:Si-PIN電制冷
探測器分辨率:145eV
高壓范圍:0-50Kv,50W
X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:3種自動切換;
CCD觀察:260萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
樣品腔:330×360×100mm
標(biāo)準(zhǔn)配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜:100張
保險管:3支
計算機主機:品牌+雙核
顯示屏:19吋液晶
打印機:噴墨打印機