X射線探傷優(yōu)點(diǎn):
X射線實(shí)時(shí)成像直觀、照相底片可以長(zhǎng)時(shí)間的保存,對(duì)薄壁工件無損探傷靈敏度較高。 對(duì)體積狀缺陷敏感,缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測(cè)量。對(duì)工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求,材料晶粒度對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大,可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測(cè)。所以在壓力容器的焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。
X射線探傷缺點(diǎn):
對(duì)面狀缺陷不敏感,射線對(duì)人體有害,射線源昂貴,防護(hù)成本更高。射線照相法底片評(píng)定周期較長(zhǎng),對(duì)厚壁工件檢測(cè)靈敏度低。
工業(yè)X射線探傷常用標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介及適用范圍
1、中國(guó)鍋爐、壓力容器行業(yè)射線探傷標(biāo)準(zhǔn):
JB/T4730.2—2005 承壓設(shè)備無損檢測(cè)第二部分:射線檢測(cè)
GB/T3323—2005 鋼溶化焊對(duì)接接頭射線照相及焊縫質(zhì)量分級(jí)
2、美國(guó)標(biāo)準(zhǔn):ASME第五卷A分冊(cè)第二章、B分冊(cè)第二十二章;
3、國(guó)標(biāo):
DG1410---2006 射線檢測(cè)(一般性要求)
DG1410.1---2006 鋼對(duì)接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.2---2006 小口徑管對(duì)接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.3---2006 小口徑管對(duì)接接頭射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)規(guī)
4、JB/T4730.2—2005 標(biāo)準(zhǔn)將焊縫射線照相的質(zhì)量分為*、AB級(jí)、B級(jí)三個(gè)級(jí)別(級(jí)別不同、照相靈敏度、清晰度、
對(duì)比度不同)
B 級(jí)為,一般應(yīng)用于核容器焊縫檢驗(yàn);
*為低級(jí),可應(yīng)用于一般結(jié)構(gòu)件焊縫檢驗(yàn);
AB為中間級(jí),主要應(yīng)用于鍋爐、壓力容器受壓對(duì)接焊縫檢驗(yàn);
5、JB/T4730.2—2005標(biāo)準(zhǔn)將焊縫質(zhì)量分為四個(gè)級(jí)別;
1級(jí)為,常用于有特別要求設(shè)備之對(duì)接焊縫質(zhì)量驗(yàn)收;
2級(jí)主要用于鍋爐、壓力容器的重要受壓對(duì)接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
3級(jí)主要用于重要結(jié)構(gòu)件及鍋爐、壓力容器一般受壓對(duì)接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
4極為低級(jí),要求焊縫質(zhì)量4級(jí)合格的產(chǎn)品不應(yīng)該再進(jìn)行RT檢驗(yàn)。
等等一些標(biāo)準(zhǔn)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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