冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)設(shè)備特點(diǎn)

◆ 可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能

◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃（40℃）

◆ 滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求

◆ 采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行

◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成

◆ 通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能

◆ 感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出（回）風(fēng)口符合實(shí)驗(yàn)有效性

◆ 機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但 是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。（需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下）RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示 為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)（可控制斜率的溫度沖擊）。

的應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T 10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2.GB/T 11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4.GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

5.GB/T 2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

6.GB/T 2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

7.GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)

8.GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)

滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊臺(tái)、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求

技術(shù)參數(shù)