LH-373渦電流式膜厚測量儀
品牌:日本Kett
LH-373用于鋁合金、不銹鋼等非磁性金屬物上的絕緣被膜之測量。可對(duì)鋁合金上的陽極或硬陽處理等之薄膜,做正確的測量。
373系列皆可將資料打印或轉(zhuǎn)送計(jì)算機(jī)儲(chǔ)存;機(jī)體搭載有16項(xiàng)功能,并備有打印機(jī)、測量臺(tái)、外部輸出線及資料管理軟件供選購利用。
特色:
· 中文界面
具備中文、日文、英文、韓文四種操作語言顯示,操作簡單明了。
· 100組檢量曲線記憶容量
使用者可將所有工件分類,將檢量曲線各別建立,開機(jī)即可上使用,不需再校正。
· 測量值具查閱功能
工作現(xiàn)場的量測值zui多可記憶3,000筆,使用者可在「刪除數(shù)據(jù)」功能下,一一查閱每一筆測量值。
· 具統(tǒng)計(jì)平均功能
統(tǒng)計(jì)計(jì)算范圍可由使用者自行設(shè)定,統(tǒng)計(jì)計(jì)算zui大值、zui小值、平均值及標(biāo)準(zhǔn)差值。
· 具連續(xù)掃瞄測量功能
373系列膜厚計(jì)搭載「單點(diǎn)測量」及「連續(xù)測量」功能,廣用于各種表面狀況及排除測量爭議。
· 具資料傳輸功能
測量數(shù)值可外接打印機(jī)VZ-330(選購)或外接計(jì)算機(jī)。測量時(shí)實(shí)時(shí)傳輸或測量后一并傳輸皆可。
規(guī)格:
LH-373渦電流式膜厚測量儀 | |
測量方式 | 渦電流式 |
測量對(duì)象 | 非磁性金屬上的絕緣被膜 |
測量范圍 | 0~1,200μm或0~47.0mils |
測頭型式 | 單點(diǎn)接觸定壓式(LHP-J) |
zui小測量面積 | 5x5mm |
測量精度 | 50μm以下:±1μm;50μm~1,000μm:±2%;1,000μm以上:±3% |
分辨率 | 100μm以下:0.1μm 100μm以上:1.0μm |
檢量曲線 | 100組檢量曲線記憶 |
資料記憶數(shù) | 約39,000筆,資料具查閱功能 |
測量功能 | 具單點(diǎn)測試、連續(xù)掃瞄測試,可測試膜厚分布變化 |
顯示方式 | 背光式LCD(18064dots)數(shù)位顯示zui小解析0.1μm |
外部輸出 | 可將資料輸出至個(gè)人計(jì)算機(jī)或打印機(jī)(RS-232C) |
電 源 | 單3堿性電池x4顆 |
電力消耗 | 80mW(當(dāng)背光關(guān)閉時(shí)) |
電池壽命 | 約100小時(shí)(連續(xù)使用,背光關(guān)閉時(shí)) |
操作環(huán)境 | 0~40℃ |
應(yīng)用功能 | 檢量線選擇、素材補(bǔ)正、資料刪除、資料記憶、上下限設(shè)定、統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值)、顯示選擇、日期時(shí)間、自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間、背光亮度、背光時(shí)間、單位切換、資料輸出、自動(dòng)批號(hào)區(qū)分、測量方式、維修模式等功能 |
尺 寸 | W75xD140H31(mm) |
重 量 | 約340g |
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 標(biāo)準(zhǔn)片盒子、單3號(hào)堿性電池1.5Vx4顆、曲面固定器、攜帶皮套 |
專屬配件 | 鋁素材(NFE373)、標(biāo)準(zhǔn)片5片組(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm) |
選購配備 | 標(biāo)準(zhǔn)片(配件以外的厚度)、膜厚計(jì)測臺(tái)LW-990、USB計(jì)算機(jī)傳輸線、打印機(jī)VZ-330、打印機(jī)傳輸線、RS-232C&USB轉(zhuǎn)換線、資料管理軟件LDL-02、資料管理軟件McWAVE系列 |
株式會(huì)社ケツト科學(xué)研究所
Kett Electric Laboratory
中國區(qū)總代理,: