| 環(huán)境試驗設(shè)備 |
| GB 10586-89 | 濕熱試驗箱技術(shù)條件 |
| GB 10587-89 | 鹽霧試驗箱技術(shù)條件 |
| GB 10588-89 | 長霉試驗箱技術(shù)條件 |
| GB 10589-89 | 低溫試驗箱技術(shù)條件 |
| GB 10590-89 | 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)務(wù)件 |
| GB 10591-89 | 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 |
| GB 10592-89 | 高、低溫試驗箱技術(shù)條件 |
| GB 11158-89 | 高溫試驗箱技術(shù)條件 |
| GB 11159-89 | 低氣壓試驗箱技術(shù)條件 |
| 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 |
| GB/T 5170.1-1995 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 總則 |
| GB/T 5170.2-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備 |
| GB/T 5170.5-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備 |
| GB/T 5170.8-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備 |
| GB/T 5170.9-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 太陽輔射試驗設(shè)備 |
| GB/T 5170.10-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備 |
| GB/T 5170.11-1996 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試設(shè)備 |
| GB 5170.13-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機(jī)械振動臺 |
| GB 5170.14-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺 |
| GB 5170.15-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用液壓振動臺 |
| GB 5170.16-85 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗用離心式試驗機(jī) |
| GB 5170.17-87 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備 |
| GB 5170.18-87 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備 |
| GB 5170.19-89 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備 |
| GB 5170.20-90 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備 |
