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          介電常數(shù)介質(zhì)損耗/介電常數(shù)測試儀
          詳細摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
          介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀1
          詳細摘要:6.Q表正常工作條件

          a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;

          b.相對濕度:80%;

          c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

          7.其他

          a.消耗功率:約25W;

          b.凈重:約7kg;

          c.外型尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280。
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
          介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀GB1409
          詳細摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀參數(shù)
          Q 值測量范圍 2 ~ 1023
          固有誤差 ≤ 5 %
          工作誤差 ≤7%
          電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
          電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
          主電容調(diào)節(jié)范圍 18 ~ 220pF
          主電容調(diào)節(jié)準確度 1 %
          信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
          頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 160MHz
          產(chǎn)品型號:gdat-a所在地:北京 參考價:面議
          介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀廠家
          詳細摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)特性
          Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
          固有誤差 ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

          工作誤差 ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
          介電常數(shù)測試儀廠家
          詳細摘要:gdat高頻Q表的創(chuàng)新設(shè)計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì),無須關(guān)注量程和換算單位。
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
          材料介電常數(shù)試驗儀
          詳細摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標準:GBT1409-2006
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
          工頻介電常數(shù)介質(zhì)耗損測試儀
          詳細摘要:主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。
          主要可以測量電容器,互感器,變壓器,各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tg)和電容量( Cx)以,其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品。
          產(chǎn)品型號:BDAT-B所在地:北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426室 參考價:面議
          介電常數(shù)介質(zhì)耗角測試儀
          詳細摘要:介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426 參考價:面議
          介電常數(shù)測試儀
          詳細摘要:介電常數(shù)試驗儀主要特點:
          空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低。
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京海淀建材城西路50號 參考價:面議
          介電常數(shù)介電耗損測試儀
          詳細摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京市海淀區(qū)上地十街輝煌國際西6號樓4層0426 參考價:面議
          介電常數(shù)測定儀儀
          詳細摘要:滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價:面議
          介電常數(shù)測試儀設(shè)備
          詳細摘要:介電常數(shù)測試儀
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價:面議
          介電常數(shù)測試儀GDAT-A
          詳細摘要:空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū) 參考價:面議
          薄膜工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀(液體)
          詳細摘要:主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價:面議
          介電常數(shù)測試儀 介電常數(shù) 介電常數(shù)試驗儀 檢測設(shè)備儀器
          詳細摘要:空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū)建材城西路 參考價:面議
          北京哪里生產(chǎn)介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
          詳細摘要:空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū)建材城西路50號 參考價:面議
          介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀器
          詳細摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀專業(yè)供應(yīng)商,如需請致電詳談。
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū) 參考價:面議
          介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗
          詳細摘要:c類數(shù)顯Q表工作頻率范圍是10kHz~60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數(shù)字化阻抗測試儀器。它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理,以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值,電感量和分布電容量;電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗(tanδ)和介電常數(shù)(ε),高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等進行測試。
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū) 參考價:面議
          介電常數(shù)檢測儀
          詳細摘要:介電常數(shù)測試儀
          產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京市海淀區(qū) 參考價:面議
          介電常數(shù)測試儀(試驗儀器)
          詳細摘要:北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)介電常數(shù)測試儀,: ,
          產(chǎn)品型號:所在地:北京市海淀區(qū) 參考價:面議

          北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司主營產(chǎn)品:絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數(shù)測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀 化工儀器網(wǎng) 設(shè)計制作,未經(jīng)允許翻錄必究.Copyright(C) http://facexiu.com, All rights reserved.

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