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脈沖式匝間絕緣耐壓測(cè)試儀、數(shù)字式匝間測(cè)試儀
點(diǎn)擊次數(shù)：2533 發(fā)布時(shí)間：2013-10-15
脈沖式線圈測(cè)試儀（即數(shù)字式匝間儀）可的、非破壞
性的對(duì)有線圈繞組的部件進(jìn)行電氣試驗(yàn)。其原理是對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈繞組和被測(cè)試?yán)@組施加相同的脈沖電壓，比較兩者的瞬態(tài)波形，以測(cè)試被測(cè)線圈的品質(zhì)。瞬態(tài)波形也就是線圈內(nèi)發(fā)生的衰減振
蕩的波形，他可同時(shí)判斷該繞組的電感、品質(zhì)因素、繞組的圈數(shù)差及匝間短路情況，在有鐵芯的情況下，還可以判斷其材質(zhì)的差別等。在施加高壓脈沖的情況下，電暈放電的發(fā)生還可以
對(duì)絕緣不良進(jìn)行判斷?？傊?，標(biāo)志線圈品質(zhì)的各個(gè)要素，可以在極短時(shí)間內(nèi)檢查完成。
脈沖式線圈測(cè)試儀，采用技術(shù)的高穩(wěn)定性高壓沖擊電源，大幅提高了儀器測(cè)試準(zhǔn)確度。儀器通過微型計(jì)算機(jī)技術(shù)把波形的各種參數(shù)量化處理，再用直觀的波形進(jìn)行顯示和判斷，操作簡單，判斷準(zhǔn)確，自動(dòng)化程度高。該儀器體積小，重量輕，便于攜帶。沖擊波形實(shí)例：
圖1.1-1線圈衰減振蕩波形分析
???采用技術(shù)的高穩(wěn)定性高壓沖擊電源和可控硅模塊控制的高壓開關(guān)器件，大幅度提高了產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性。（*避免了*代模擬產(chǎn)品“充氣氫閘管”、“示波管”等造成的穩(wěn)定性差，開機(jī)預(yù)熱時(shí)間長，壽命短，易老化等問題。）
采用先進(jìn)的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，四種波形比較方法快速判斷線圈品質(zhì)，LCM液晶模塊顯示，人性化操作界面，簡單易學(xué)，比較結(jié)果直接顯示，并有多種聲響報(bào)警方式可選擇，體積小，重量輕
工作原理
脈沖式線圈測(cè)試儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心，由它控制高壓脈沖發(fā)生器對(duì)線圈施加一次極短時(shí)間的高壓脈沖，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號(hào)經(jīng)由CPLD可編程邏輯器件控制的高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),然后反饋至MCU中央信息處理系統(tǒng)進(jìn)行時(shí)間、電暈量、面積、相位等參數(shù)的運(yùn)算，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存
儲(chǔ)器中，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)_________及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現(xiàn)的真實(shí)性。并且根據(jù)用戶設(shè)定的條件,對(duì)合格或不合格者進(jìn)行報(bào)警處理。
線圈質(zhì)量檢查判斷方法
圖1.3.2_1：波形面積比較
在任意的區(qū)間內(nèi)，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測(cè)線圈波形面積進(jìn)行比較。
如圖1.3.2_1所示，計(jì)算出A-B區(qū)間內(nèi)的面積，判定兩者面積相差的程度。判定的標(biāo)準(zhǔn)用百分比（％）進(jìn)行設(shè)定，計(jì)算結(jié)果在范圍內(nèi)的為合格品。區(qū)間內(nèi)面積的大小，大體與線圈內(nèi)能量損耗成比例，故能以此判斷能量損耗的大小。
例如被測(cè)線圈有匝間短路時(shí)，短路部分的反映是能量的損失增大。
圖1.3.2_3：波形電暈量比較
在任意的區(qū)間內(nèi)，對(duì)被測(cè)線圈的電暈放電量與設(shè)定值進(jìn)行比較。
如圖1.3.2_3所示，基本忽略波形差異，在任意的A-B區(qū)間內(nèi)，僅在被測(cè)線圈實(shí)測(cè)波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進(jìn)行面積（積分）計(jì)算，并將計(jì)算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較，判定電暈放電量是否合格。可以認(rèn)為該量是模擬方式中檢出的通過高頻濾波器的量值。
圖1.3.2_2：波形面積差比較
在任意區(qū)間內(nèi)，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測(cè)線圈波形偏差部分的面積與標(biāo)準(zhǔn)線圈波形面積進(jìn)行比較。
如圖1.3.2_2 所示，計(jì)算出A-B 區(qū)間內(nèi)面積差，對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)波形（同圖1.3.2_1）判定偏差的程度。
判定的標(biāo)準(zhǔn)用百分比（％）進(jìn)行設(shè)定，結(jié)果在范圍內(nèi)的為合格品。波形偏差面積的大小表示電感值及能量損耗程度的總和。此方法可較全面地檢查線圈的電感L值及能量損失。
圖1.3.2_4：波形相位比較
對(duì)標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測(cè)線圈的波形相位相應(yīng)過零點(diǎn)（A、B）的差值與設(shè)定值進(jìn)行比較。
如圖1.3.2_4 所示，以的標(biāo)準(zhǔn)波形的過零點(diǎn)A 為基礎(chǔ)，與被測(cè)線圈實(shí)測(cè)波形相應(yīng)的過零點(diǎn)B相差的點(diǎn)數(shù)作為判定依據(jù)，并將計(jì)算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較，判定波形相位是否合格。由于波形相位與線圈的電感L密切相關(guān)，此方法可偏重于檢查線圈的電感L值。
脈沖式匝間絕緣耐壓測(cè)試儀、數(shù)字式匝間測(cè)試儀