最真實(shí)的信號呈現(xiàn)
SigOFIT光隔離探頭具有高的共模抑制比,在100MHz時CMRR高達(dá)112dB、在500MHz時CMRR仍然高達(dá)100dB,是判定其他電壓探頭所測信號真實(shí)性的裁判。
SigOFIT光隔離探頭MOIP350P測試精度
作為判定其他電壓探頭所測信號真實(shí)性的裁判,測試精度是SigOFIT光隔離探頭的重要指標(biāo)。SigOFIT光隔離探頭,具有幅頻特性,直流增益精度優(yōu)于1%,全量程范圍內(nèi)最大1.41mVrms底噪,預(yù)熱后零點(diǎn)漂移小于500μV。
第三代半導(dǎo)體的最佳測試手段
第三代半導(dǎo)體器件由于導(dǎo)通與關(guān)斷時間很短,信號具有更快的上升沿和下降沿,信號中具有很高能量的高頻諧波,SigOFIT光隔離探頭在最高帶寬時,仍然具有近100dB的共模抑制比,可以近乎地抑制高頻共模噪聲所產(chǎn)生的震蕩,所呈現(xiàn)的信號沒有額外多余成分,是第三代半導(dǎo)體測試
測試氮化鎵(GaN)不炸管
SigOFIT光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸,探頭輸入電容小于3pF,測試氮化鎵(GaN)十分安全。
使用靈活
SigOFIT光隔離探頭比傳統(tǒng)高壓差分探頭體積更小,探頭引線更精巧,使用更加靈活方便。
測試量程更寬
不同于高壓差分探頭只可以測試高壓信號,SigOFIT光隔離探頭通過匹配不同的衰減器,可以測試±1.25V至±2500V的差模信號,并實(shí)現(xiàn)滿量程輸出,達(dá)到很高的信噪比。
高效便捷
SigOFIT光隔離探頭響應(yīng)快,上電即測,校準(zhǔn)時間小于1秒,可實(shí)時保證精確的信號輸出。
應(yīng)用場景
對其他電壓探頭所測結(jié)果準(zhǔn)確性、真實(shí)性存在質(zhì)疑時,SigOFIT光隔離探頭可作為最終裁判依據(jù)。
電源設(shè)備評估、電流并聯(lián)測量、EMI 和 ESD 故障排除
電機(jī)驅(qū)動設(shè)計(jì)、功率轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì) 、電子鎮(zhèn)流器設(shè)計(jì)
氮化鎵、碳化硅、IGBT半/全橋設(shè)備的設(shè)計(jì)與分析
高壓高帶寬測試應(yīng)用的安全隔離測試
逆變器、UPS及開關(guān)電源的測試
寬電壓、寬帶測試應(yīng)用
各種浮地測試