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厚度測量是涂鍍層物性檢測的重要項目之一，伴著新型工程材料開發(fā)，微電子技術(shù)應(yīng)用和標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進(jìn)展，電腦膜層（漆膜）測厚技術(shù)近幾年來在國內(nèi)外得到迅速發(fā)展。與此同時，采取多種原理，應(yīng)用范圍廣泛，有較高科技含量，日趨智能化的各類電腦膜層（漆膜）測厚儀相繼問世，有力地推動了工程物理檢測的發(fā)展。與*技術(shù)和同類產(chǎn)品相比，目前我國涂鍍層測厚技術(shù)在總體上相當(dāng)于*工業(yè)國家19世紀(jì)90年代初期水平，面對入世和經(jīng)貿(mào)一體化的挑戰(zhàn)，我們當(dāng)奮起直追，增強參與競爭的適應(yīng)力和創(chuàng)新意識，搶抓機遇，努力實現(xiàn)測厚技術(shù)的跨越式發(fā)展。
回顧電腦膜層（漆膜）測厚儀技術(shù)發(fā)展的歷史沿革，集中表現(xiàn)為以下技術(shù)特征：
在*工業(yè)國家，電腦膜層（漆膜）測厚儀技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)已自成體系，而且有多種規(guī)格的涂鍍層測厚儀可同時兼顧雙重原理，滿足多項試驗方法標(biāo)準(zhǔn)要求，因而大大地拓展其應(yīng)用領(lǐng)域。也為我國采用*技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，推動國產(chǎn)儀器更新?lián)Q代提供了借鑒與參考。
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