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          行業(yè)產(chǎn)品

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          涂層測(cè)厚儀

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          • 涂層測(cè)厚儀
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          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 型號(hào) Minitest 4100
          • 品牌
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 所在地 上海市
          在線詢(xún)價(jià) 收藏產(chǎn)品

          更新時(shí)間:2015-10-25 12:14:46瀏覽次數(shù):426

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          德國(guó)EPK公司Minitest 4100-3100-2100-1100測(cè)厚儀用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
          ? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
          ? 有色金屬上的絕緣覆層
          ? 絕緣基體上的有色金屬覆層

          詳細(xì)介紹

          上海玖縱精密儀器有限公司

          :曾

          :  

            

          :    2671854859

            

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          涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100    
          德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
          MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
          所有型號(hào)均可配所有探頭;
          可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
          可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
           
            涂層測(cè)厚儀MiniTest1100

          MiniTest功能
          型號(hào)
          1100
          2100
          3100
          4100
          MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
          應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
          1
          1
          10
          99
          每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)
          -
          1
          10
          99
          可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
          -
          1
          500
          500
          數(shù)據(jù)總量
          1
          10000
          10000
          10000
          MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
          讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
          -
          讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
          -
          -
          組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
          -
          -
          組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
          -
          -
          存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
          -
          -
          -
          分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
          -
          -
          顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
          -
          其他功能
          透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
          -
          在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
          利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
          補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)
          -
          -
          外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能
          -
          保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
          更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
          設(shè)置極限值
          -
          -
          公英制轉(zhuǎn)換
          連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值
          -
          -
          連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
          -
          -
          浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
          組內(nèi)單值延遲顯示
          -
          連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值

          MiniTest可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
          所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
          F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
          N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
          FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
          探頭
          量程
          低端
          分辨率
          誤差
          zui小曲率
          半徑(凸/凹)
          zui小測(cè)量
          區(qū)域直徑
          zui小基
          體厚度
          探頭尺寸


          應(yīng)
           
           
           
           
           
           
           
          F05
          0-500μm
          0.1μm
          ±(1%±0.7μm)
          1/5mm
          3mm
          0.2mm
          φ15x62mm
          F1.6
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          0.5mm
          φ15x62mm
          F1.6/90
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          平面/6mm
          5mm
          0.5mm
          φ8x8x170mm
          F3
          0-3000μm
          0.2μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          0.5mm
          φ15x62mm
          F10
          0-10mm
          5μm
          ±(1%±10μm)
          5/16mm
          20mm
          1mm
          φ25x46mm
          F20
          0-20mm
          10μm
          ±(1%±10μm)
          10/30mm
          40mm
          2mm
          φ40x66mm
          F50
          0-50mm
          10μm
          ±(3%±50μm)
          50/200mm
          300mm
          2mm
          φ45x70mm


           
           
           
          FN1.6
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          F0.5mm
          N50μm
          φ15x62mm
          FN1.6P
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          平面
          30mm
          F0.5mm
          N50μm
          φ21x89mm
          FN2
          0-2000μm
          0.2μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          F0.5mm
          N50μm
          φ15x62mm



           
           
           
           
           
           
           
           
           
          N02
          0-200μm
          0.1μm
          ±(1%±0.5μm)
          1/10mm
          2mm
          50μm
          φ16x70mm
          N.08Cr
          0-80μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          2.5mm
          2mm
          100μm
          φ15x62mm
          N1.6
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          2mm
          50μm
          φ15x62mm
          N1.6/90
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          平面/10mm
          5mm
          50μm
          φ13x13x170mm
          N10
          0-10mm
          10μm
          ±(1%±25μm)
          25/100mm
          50mm
          50μm
          φ60x50mm
          N20
          0-20mm
          10μm
          ±(1%±50μm)
          25/100mm
          70mm
          50μm
          φ65x75mm
          N100
          0-100mm
          100μm
          ±(1%±0.3mm)
          100mm/平面
          200mm
          50μm
          φ126x155mm
          CN02
          10-200μm
          0.2μm
          ±(1%±1μm)
          平面
          7mm
          無(wú)限制
          φ17x80mm
          注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
          N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
          CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

          MiniTest探頭圖示
          FN1.6
          0~1600μm,φ5mm
          兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          FN1.6P
          0~1600μm,φ30mm
          兩用測(cè)頭, 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度


           
          F05
          0~500μm,φ3mm
          磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
          量程低端分辨宰很高(0.1μm)

           
          F1.6
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測(cè)頭
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          F3
          0~3000μm,φ5mm
          磁性測(cè)頭
          可用于較厚的覆層

           
          F1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          90度磁性測(cè)頭
          尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          F10
          0~10mm,φ20mm
          適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


           
          F20
          0~20mm,φ40mm
          適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

           
          F50
          0~50mm,φ300mm
          適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

           
          N02
          0~200μm,φ2mm
          非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          N0.8Cr
          0~80μm,φ2mm
          適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

           
          N1.6
          0~1600μm,φ2mm
          非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          N1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
          尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          N10
          0~10mm,φ50mm
          非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

           
          N20
          0~20mm,φ70mm
          非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

           
          N100
          0~100mm,200mm
          非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
           
          CN02
          10~200μm,φ7mm
          用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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