晶振頻率的測試方法
產(chǎn)品簡介：
一、CX-118A是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能；中心頻率（標(biāo)稱頻率）F0、分檔值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設(shè)定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。。
具有PPM測量功能，預(yù)置頻率F0可任意設(shè)置。該功能特別適合于晶體振動器生產(chǎn)企業(yè)，測試結(jié)果顯示直觀。
主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數(shù)據(jù)累計 ，功能設(shè)定
二、主要技術(shù)指標(biāo)：
頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz
頻率測量靈敏度：30mv
PPm測量：3KHz — 100MHz
PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可擴展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定
誤差設(shè)置范圍設(shè)定：± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。
閘門設(shè)置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，
1檔閘門1ms — 10s可設(shè)，
每1mS為一階梯任意設(shè)定。
周期測量范圍：100 ms — 10 s
晶振穩(wěn)定性：5 ×10-7 / 日
（可選 1 ×10-7/ 日，1 ×10-8 / 日）
時基頻率：OCXO--10MC
三、特點：
微機控制，可編程器件開發(fā)， 模塊化設(shè)計
100MHz同步等精度測量方式
SMT貼裝生產(chǎn)、工藝，全新小型化結(jié)構(gòu)設(shè)計
9位LED顯示
PPm提示功能
四、可選配：
晶體測量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .
注：儀器配置
CX-117A晶體測試儀/PPm 1臺
連接電纜 2 根
電源線 1根
匹配器32.768KHz ～ 20MHz 1個
保險絲 2個
說明書 1份
合格證 1個
晶振頻率的測試方法
儀器面板功能介紹
CX-118A晶振測試儀前面板及功能介紹
一、面板示意圖：
圖一
二、面板名稱及功能介紹
序號 | 名稱 | 用途 |
1 | 電源開關(guān) | 按下數(shù)字窗口20.0000 MHz燈亮 |
2 | 功能選擇↑ | 按下功能指示燈往下移動一位，燈亮表示儀器當(dāng)前執(zhí)行的測量狀態(tài) |
3 | 功能選擇↓ | 按一下，往下移動一位，其余同上 |
4 | 設(shè)置鍵 | 用于PPM參數(shù)設(shè)定 |
5 | 參數(shù)鍵 | 用于PPM參數(shù)設(shè)定 |
6 | 閘門選擇 | 按一下依次0.01s|、0.1s、1s、10S循環(huán) |
7 | 衰減選擇鍵 | 按下時被測信號衰減10db |
8 | 低通選擇鍵 | 按下時KHz低通微波 |
9 | A輸入插座 | 接輸入信號0.1Hz～ 100MHz（接測試盒使用） |
10 | 數(shù)據(jù)顯示窗口 | 九位LED數(shù)據(jù)顯示 |
11 | PPM顯示窗口 | 顯示晶振PPM數(shù)值 |
12 | 速度調(diào)節(jié)旋鈕 | 用于調(diào)節(jié)測試速度 |
晶振頻率的測量
一、在儀器使用前，應(yīng)檢查電源是否符合本儀器的電壓工作范圍，儀器使用三芯電源線，電源插座接地良好。經(jīng)上述檢查后儀器即可通電。
本機使用電源為交流 220V±10%，按下前面板左下方的電源開關(guān)鍵，開機后儀器自檢，并顯示機型，接著儀器進(jìn)行自校測量，自動測量機內(nèi)的鐘頻信號。如下圖二所示：
圖 二
二、 頻率測量操作：
將晶振測試盒的四芯插頭連接到主機輸入A插座（9）如下圖三所示：
圖三
2、 按閘門（6）鍵，置1s燈亮。此鍵與速度調(diào)節(jié)（10）鍵配合使用，備注：當(dāng)速度調(diào)節(jié)旋鈕打開時，按閘門鍵不起作用。
1、把晶振插入晶振測試盒相應(yīng)的位置，按“
”或“Δ”鍵，點亮“FA”，此時顯示屏顯示的值為當(dāng)前晶振頻率值，
三、晶振頻段的選擇與切換方法
1、選擇當(dāng)前被測晶振的頻段，如果被測晶振的頻率低于10MHz必須按下低通鍵（8），如圖四，反之大于10MHz的晶振必須彈上來，如圖五所示
圖 四 圖 五
2、 將晶振插入測試盒相對應(yīng)的卡槽中，按下手柄鎖定被測晶振，此時測試盒電源指示亮，而且主機數(shù)據(jù)顯示窗口（10）顯示當(dāng)前被測晶振的實際頻率。
注：1、閘門的選擇，依據(jù)顯示被測信號有效位數(shù)，來確定或測量的速度。
2、當(dāng)所測量的頻率大于5V時，請按下衰減鍵。
四、測試盒的頻段的劃分
晶體測量匹配器：32.768KHz-20MHz (標(biāo)配)
20MHz-40MHz （選配）
40MHz-65MHz （選配）
65MHz-100MHz（選配）
注：測試晶振時需選擇相應(yīng)頻段的測試盒
五、晶振測試盒的開關(guān)選擇與使用方法
當(dāng)選擇好相應(yīng)頻段的測試盒后,需將測試盒的開關(guān)拔置相應(yīng)的位置，32.768KHz-1MHz以內(nèi)的晶振要將開關(guān)拔到左邊如圖六所示，1MHz以上晶振必須拔到右邊如圖七所示，
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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