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納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)TI 980一臺(tái)優(yōu)異納米力學(xué)測(cè)試儀器所需的要求，實(shí)驗(yàn)上的靈活度與可實(shí)現(xiàn)性，測(cè)量穩(wěn)定性，以及系統(tǒng)設(shè)計(jì)的模塊化。

Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規(guī)測(cè)量的研究，同時(shí)多樣化的升級(jí)選項(xiàng)可以滿足您未來(lái)表征的潛在多樣性的需求。

原子力顯微鏡MultiMode是受歡迎的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度，迄今為止數(shù)以萬(wàn)計(jì)的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用。

掃描探針顯微鏡Innova同類(lèi)AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡（SPM）具有很高的分辨率，實(shí)用性強(qiáng)，從器件表征到物理化學(xué)、生命科學(xué)...

原子力顯微鏡Dimension FastScanDimension FastScan 原子力顯微鏡 （AFM）在不損失Dimension® Icon&...

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生物型原子力顯微鏡NanoWizard® 4 XP BioScience 是一款專(zhuān)為生物科學(xué)研究打造的具有更高性能與更高靈活性的生物型原子力顯微鏡

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復(fù)位模式運(yùn)行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復(fù)位...

DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測(cè)器信號(hào)，數(shù)字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線信號(hào)，前置放大器芯片，SDD探測(cè)器，同步輻射光源。

薄膜測(cè)厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無(wú)損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe RT該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜（NIR）的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜（CIGS,...

顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)（超過(guò)500材料），新材料可以...

涂層測(cè)厚儀SURFIX®X系列測(cè)量?jī)x器: 彩屏, PC 連接，易操作,以及適合PHYNIX探頭

涂層測(cè)厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽(yáng)氧化涂層的快速測(cè)量