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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
上海物光顯微熔點(diǎn)儀SGW® X-4B應(yīng)用范圍
測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
上海物光顯微熔點(diǎn)儀SGW® X-4B產(chǎn)品簡介
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
±2℃（在200～300℃時(shí)）
| X-4 | X-4A | X-4B |
溫度顯示zui小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點(diǎn)觀察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學(xué)放大倍數(shù) | 40倍 | 40倍 | 連續(xù)變倍40倍-100倍 |