X射線熒光光譜儀的使用原理
X射線熒光光譜儀簡(jiǎn)介
采用X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡(jiǎn)稱:XRF光譜儀)測(cè)量,是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。
X射線熒光分析被廣泛應(yīng)用于元素和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材領(lǐng)域的調(diào)查和研究。在地球化學(xué),法醫(yī)學(xué),考古學(xué)和藝術(shù)品等領(lǐng)域也有涉及,例如油畫(huà)和壁畫(huà)的鑒定。
X射線熒光的物理原理
當(dāng)材料暴露在短波長(zhǎng)X光檢查或伽馬射線時(shí),其組成原子可能會(huì)發(fā)生電離。如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離時(shí),就足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子,然而這會(huì)使得原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定。此時(shí),在外軌道的電子就會(huì)“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道,以填補(bǔ)遺留下來(lái)的洞。
回補(bǔ)”的過(guò)程會(huì)釋出多余的能源,光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異。因此,物質(zhì)放射出的輻射,這是原子的能量特性。
X射線熒光光譜儀的使用型態(tài)
XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出,造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候,會(huì)放射出特征X光。元素不同,會(huì)放出不同的各自特征的X光,并且具有不同的能量和波長(zhǎng)特性。
檢測(cè)器(Detector)接受這些X光,儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的信號(hào)。在某種程度上X射線光譜儀與原子吸收光譜儀互補(bǔ),大大減少了工廠附設(shè)的品管實(shí)驗(yàn)室的分析人力投入。