BERTScope BSA125C 誤碼率測(cè)試儀為測(cè)量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了一種新方法。通過(guò)把眼圖分析與BER碼型生成結(jié)合起來(lái),您可以更迅速、更準(zhǔn)確、更全面地執(zhí)行誤碼率檢測(cè)。通過(guò)BERTScope BSA125C 誤碼率測(cè)試儀及其系列,您可以簡(jiǎn)便地隔離問(wèn)題碼和碼型序列,然后通過(guò)七種高級(jí)誤碼分析功能,進(jìn)一步展開(kāi)分析,實(shí)現(xiàn)異常深入的統(tǒng)計(jì)測(cè)量能力。
- 其它儀器
-
模塊 信號(hào)質(zhì)量分析儀模塊 靜電計(jì) 光發(fā)射機(jī) 偏振綜合儀 多通道系統(tǒng) 光波測(cè)試系統(tǒng) 光功率傳感器模塊 短距離接收器模塊 穩(wěn)壓電源 高速點(diǎn)膠機(jī) 光學(xué)熱臺(tái) 高低溫試驗(yàn)箱 超高溫?zé)崤_(tái) 地質(zhì)冷熱臺(tái) 氣相色譜儀 雙連接閂鎖套件 幀控制器 熔接機(jī) 音頻分析儀 雙激光軸板 光電時(shí)鐘恢復(fù) 光電時(shí)鐘恢復(fù)模塊 TDA系統(tǒng) 衰減器 可編程曲線(xiàn)跟蹤器 數(shù)字萬(wàn)用表 光衰減器 電模塊 光模塊 光纖熔接機(jī) 其它 校準(zhǔn)源 半導(dǎo)體與晶體管測(cè)試 噪聲與干擾 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 協(xié)議分析儀
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- KEYSIGHT/美國(guó)是德
- TeKtronix/美國(guó)泰克
- 泰克
- FLUKE/福祿克
- R&S/羅德與施瓦茨
- YOKOGAWA/日本橫河
- Santec/日本
- Keithley/美國(guó)吉時(shí)利
- Anritsu/安立
- OLYMPUS/奧林巴斯
- 美國(guó)力科
- ADCMT/愛(ài)德萬(wàn)
- BCHP/中惠普
- SRS/斯坦福
- Newport/美國(guó)
- FUJIKURA/藤倉(cāng)
- KIKUSUI/日本菊水
- Ceyear/思儀
- HIOKI/日本日置
- RIGOL/普源
- Bruker/布魯克
- GWINSTEK/中國(guó)臺(tái)灣固緯
- HP/惠普
- XINGZHOU/興洲
- HACH/哈希
- Bristol/美國(guó)
- SHIMADZU/島津
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國(guó)臺(tái)灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- BIRD/美國(guó)鳥(niǎo)牌
- 古河蓄電池
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- TIMEPOWER/時(shí)代新維
- 智云達(dá)
- Ophir
- EXFO/加拿大
- SPIRENT/思博倫
- 中國(guó)臺(tái)灣博計(jì)
- Adixen/阿爾卡特
- Siemens/西門(mén)子
- AP(Audio Precision)/美國(guó)
- 同惠電子
- Chroma/致茂
- HAMEG/德國(guó)惠美
- ITECH/艾德克斯