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波長范圍；200nm～1000nm
光譜帶寬：4nm
雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定）
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
紫外可見分光光度計(jì)752N 用途：
該產(chǎn)品采用微處理機(jī)控制技術(shù)，在紫外可見光譜區(qū)域內(nèi)對物質(zhì)作定性、定量分析，是常規(guī)實(shí)驗(yàn)室*的多用途分析儀器。通過2011-2013年度紫外可見分光光度計(jì)3年期產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查首年檢測。
特點(diǎn)：
采用*的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點(diǎn)。
超大屏幕帶背光液晶顯示器，測量數(shù)據(jù)一目瞭覽。
采用微機(jī)測量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換精度高，并有自動調(diào)0%T和調(diào)100%T，濃度因子設(shè)定、濃度直讀。
測量讀數(shù)準(zhǔn)確性高，重現(xiàn)性好和穩(wěn)定性佳。
可選配串行打印機(jī)和與軟件UVWin7配合使用，拓展儀器的使用功能。
UVWin7軟件包（另購）。
紫外可見分光光度計(jì)752N 主要技術(shù)指標(biāo):
波長范圍；200nm～1000nm
波長大允許誤差：±2nm
波長重復(fù)性：≤1nm
透射比大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
光譜帶寬：4nm
雜散光：≤0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
穩(wěn)定性: 暗電流漂移：0.2%(T)/3min 亮電流漂移：0.5%(T)/3min
其他同類儀器：
| 主要技術(shù)參數(shù) / 特點(diǎn) | 價(jià)格 |
| 波長范圍：200-1000nm，波長精度：±1nm，光譜帶寬：4nm；5.6英寸彩色觸摸屏顯示；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、動力學(xué)，多波長；有USB接口；可連接UVwin8軟件；可選配高速熱敏打印機(jī) | 13000；14000（含打印機(jī)） |
| 波長范圍：200-1000nm，波長精度：±1nm，光譜帶寬：4nm，5.6英寸彩色觸摸屏顯示,自動調(diào)“0%T”“100%T”、帶光譜掃描、具有濃度線性回歸、動力學(xué)，多波長；峰谷檢測等高級功能；有USB接口；可連接UVwin8軟件；可選配高速熱敏打印機(jī) | 15800；16800（含打印機(jī)） |
| 波長范圍：200-1000nm，波長準(zhǔn)確度：±2nm，光譜帶寬：5nm，自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度直讀 | 9800 |
|
| 17800 |
|
| 19800 |
L6紫外 可見分光光度計(jì)（UV765升級版） |
| 21800 |
L6S紫外 可見分光光度計(jì)（UV765升級版） |
| 26000 |
UVWin8軟件 |
| 5800 |
UV757CRT紫外可見分光光度計(jì) |
| 29800 |
| CRT附電腦、打印機(jī)；技術(shù)指標(biāo)同UV757 | 46000 |
| 技術(shù)指標(biāo)同UV765；帶反控軟件 | 29800 |
UV762紫外可見分光光度計(jì) |
| 35000 |
760CRT雙光束紫外可見分光光度計(jì) |
| 68000 |